标准认证六大标准名称适用产品AEC-Q系列标准AEC-Q100集成电路集成电路ICAEC-Q101分立半导体器件BJT、IGBT、极管、变容管、FET、PIN、MOSFET、齐纳管AEC-Q102光电半导体器…
测试方法是AEC Q100-009文件和AEC Q003文件。附加需求：供应商和用户必须就被测量的电气参数和接受方法达成一致。电分配要在室内、热、冷温度下进行测试。在深入了解Q100-009和Q003文件之前，先简单解读一些，电分配并不是独立的测试项目，在附件需求中，其他项目都是写在该项目前、后进行高温、室温测试等内容，但是...
【AEC-Q100】车规芯片的AEC-Q100测试标准 汽车半导体器件的标准由汽车电子协会(AEC)制定,其中包括多个领域,常见的有AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q200等标准。AEC-Q100是针对芯片本身的设计认可的一种测试标准,类似于汽车零部件的DV测试,它包含了一系列的测试序列,从不同维度对芯片进行评估。
AEC-Q100标准是由AEC委员会开发的一项针对汽车用集成电路（IC）的测试和认证程序，该程序基于失效机制，为车用IC芯片提供了一套全面的可靠性测试和认证标准。AEC-Q100标准是芯片产品进入汽车行业的基准，自1995年首次发布后，经过多轮修订，目前实施的是2014年发布的H版标准。标准涵盖的产品类型 AEC-Q100标准覆盖了广泛...
AEC(Automotive Electronics Council)——汽车电子委员会,由美国三大汽车公司(Chrysler / Ford / GM)联合发起,并于1994年创立,会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。 AEC Q100是基于失效机理的集…
ELFR:早期寿命失效率 (AEC-Q100-008): 通过这项应力测试的器件可以用在其他应力测试上,通用数据可以使用,ELFR前后的测试是在高温条件下进行。 华碧能力范围及AEC-100技术要求 华碧实验室
AEC-Q200-003 断裂强度测试 AEC-Q200-004 自恢复保险丝测量程序 AEC-Q200-005 PCB板弯曲/端子邦线应力测试 AEC-Q200-006 端子应力(贴片元件)/切应力测试 AEC-Q200-007 电压浪涌测试 华碧实验室能力范围及AEC-Q100技术要求 华碧实验室能力范围及AEC-Q101技术要求 ...
CHAR项目,和FG一样,属于E组,但是和其他E组项目针对电性能测试不同,它在AEC Q100测试流程图中的位置如上,在Wafer制造和电性能测试部分均有涉及。 在表格中的介绍非常简单,如下 参考文件是AEC Q003,注意不是Q100 003文件,就是AEC整体的Q003文件,所以CHAR项目是AEC认证通用的文档,需要在新技术和新产品家族上开展...
AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-...
AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q101 离散组件应力测试（Stress Test）的认证规范 AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试 AEC-Q101-003 邦线切应力测试 AEC-Q101-004 同步性测试方法 AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q102 ...