AEC-Q100认证是芯片产品应用于汽车领域的基本门槛。获得该认证意味着芯片产品已经通过了严格的测试和鉴定,符合汽车电子系统的可靠性要求。 AEC-Q100标准适用于单颗IC芯片,包括但不限于MCU芯片、MPU芯片、存储类芯片、计算类芯片、安全类芯片、LED类驱动芯片、电源芯片、运算放大器、比较器、感知用模拟芯片、通信类芯片...
1.3.1 AEC-Q100认证 如果根据本文件中列出的要求,并且成功完成各项测试内容,则允许供应商声称该芯片通过了“AEC Q100认证”。对于ESD,强烈建议在供应商规格书中指定通过电压,并需要在任何异常引脚上做脚注。然后将允许供应商进行声明,例如,“AEC-Q100符合ESD分类2的要求”。 1.3.2 AEC资质证明 请注意AEC- Q100资质...
AEC Q100-009 REV-B ELECTRICAL DISTRIBUTIONS ASSESSMENT 1 适用范围 本规范描述了评估电气参数表征、分布(例如，对交流、直流和时序等)和集成电路的参数偏差的测试方法，这个测试要求已经确定了供应商规格书的参数规格限制。对于新产品，这些数据表的限值根据AEC-Q100的定义是通过应用AEC-Q003流程来确定的。测试结果用...
AEC - Q100-009 - REV-B August 27, 2007 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Change Notification The following summary details the changes incorporated into AEC-Q100-009 Rev-B: ? ? ? Section 1, Scope: Added statement regarding data sheet limits for new parts. Section 3.1...
AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 ...
AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 ...
AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q101 离散组件应力测试(Stress Test)的认证规范 AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试 ...
Q100-001: 引线键合剪切试验 Q100-002: 人体模型静电放电测试 Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 Q100-008:早期寿命失败率 Q100-009:配电评估 Q100-010: 焊球剪切试验 ...
需要金币:*** 金币(10金币=人民币1元) AEC - Q100-009 - Rev-B - Electrical Distribution Assessment 电分布评价测试.pdf 关闭预览 想预览更多内容,点击免费在线预览全文 免费在线预览全文 AEC - Q100-009 - REV-B August 27, 2007 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 9 ...
AEC-Q100-009-REV-AJuly18003ComponentTechnicalCommitteeAutomotiveElectronicsCouncilATTACHMENT9AEC-Q100-009REV-AELECTRICALDISTRIBUTIONASSESSMENT