AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-...
当然如果自己有测试团队,按照规格书开发出一套全新的测试程序也是可以的,但是这样的成本会变高,最好可以找到和封测厂相同型号和配置的ATE,这样可以共享Load Board和测试程序。 下面我们看一下AEC Q100-007中的要求,这是AEC-Q100标准自身的第7个附件。 AEC - Q100-007-REV-B FAULT SIMULATION AND FAULT GRADING介...
Q100-001:引线键合剪切测试 Q100-002:人体模型静电放电测试 Q100-004:IC 闩锁测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和使用寿命测试 Q100-007:故障模拟和测试分级 Q100-008:早期故障率 Q100-009:配电评估 Q100-010:焊球剪切测试 Q100-011:带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) Q100-012:12V...
AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q101 离...
答:AEC-Q100 是一个顶级标准,然后“爆发”为许多具体、定义明确、承诺的子标准: Q100-001: 引线键合剪切试验 Q100-002: 人体模型静电放电测试 Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 ...
AEC-Q100-006: ELECTRO-THERMALLY INDUCED PARASITIC GATE LEAKAGE (GL) TEST (DECOMMISSIONED) -电热寄生栅泄漏(gl)试验(已取消) AEC-Q100-007: FAULT SIMULATION AND TEST GRADING -故障模拟和测试分级 AEC-Q100-008: EARLY LIFE FAILURE RATE (ELFR) - 早期寿命失效率 ...
AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR)
AEC - Q100-007 - Rev-B - Fault Simulation and Test Grading故障模拟和测试分级.pdf,AEC - Q100-007 Rev-B September 18, 2007 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 7 AEC - Q100-007 Rev-B FAULT SIMULATION AND FAULT GRADING AEC
Q100-002:人体模型静电放电测试 Q100-004:IC 闩锁测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和使用寿命测试 Q100-007:故障模拟和测试分级 Q100-008:早期故障率 Q100-009:配电评估 Q100-010:焊球剪切测试 Q100-011:带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) ...