GUIDELINE FOR CHARACTERIZATION OF INTEGRATED CIRCUITS AEC - Q003 July 31, 2001Component Technical CommitteeAutomotive Electronics CouncilUpper SpecLower SpecProcessWindow Device Parameter (at one test temperature)FrequencyBetaBase Rs (ohms /sq)Matrix CellTest LimitEach dot is ameasurementfrom one partGuar...
4.5.1 Hyper–Ellipsoid Correlation Plot 椭圆形相关性plot,这个相关性分析会是电学参数和其他参数的相关性plot,图形如下面figure4所示。 This includes the distribution of an electrical parameter as a function of other parameter(s) variation. The graphical presentation of the characterization for a typical e...
AEC_Q003 AEC - Q003 July 31, 2001 Component Technical Committee Automotive Electronics Council
Q102-003标准颁布的目的是在AEC-Q104多芯片模组的基础上对含光电多芯片模组的实际测试细节进行规范指导,满足目前逐渐增加的光电模组的认证需求。主要面向的对象是矩阵前照灯、智能RGB led及红外传感器(重点是激光雷达模组)等产品。 认证范围 AEC-Q102-003中定义的OE-MCMs是由至少包含一种光电器件的多个有源或无源...
AEC Q003 REV-A GUIDELINE FOR CHARACTERIZATION OF INTEGRATED CIRCUITS 题目翻译过来是:集成电路特征描述指导文件 1 目的 在开发新集成电路或修改现有集成电路的过程中,集成电路的特征是一项极其重要的功能。本文件的目的是通过强调在特征流程开发过程中应评估的重要考虑因素来提供指导。本文档不是关于如何执行描述...
AEC-Q103-002 微机电系统压力传感器器件应力测试 AEC-Q103-003 MEMS麦克风器件应力测试 AEC-Q104 车用多芯片模块可靠性测试 AEC-Q200 被动组件应力测试(Stress Test))的认证规范(无源器件) AEC-Q200-001 阻燃性能测试 AEC-Q200-002 人体模式静电放电测试 ...
GUIDELINEFORCHARACTERIZATIONOFINTEGRATEDCIRCUITSAEC-Q003July31,2001ComponentTechnicalCommitteeAutomotiveElectronicsCouncilUpperS..
AEC - Q003 Rev - 集成电路产品电气性能鉴定指南Guidelines for Characterizing the Electrical Performance of Integrate.pdf,AEC - Q003 July 31, 2001 ) Process q s Window / s Matrix Cell m h o ( s R e s a B Beta Lower Upper Spec Spec y c n e u q e r F Device P
AEC-Q103-002 微机电系统压力传感器器件应力测试 AEC-Q103-003 MEMS麦克风器件应力测试 AEC-Q104 车用多芯片模块可靠性测试 AEC-Q200 被动组件应力测试(Stress Test))的认证规范(无源器件) AEC-Q200-001 阻燃性能测试 AEC-Q200-002 人体模式静电放电测试 ...
AEC-Q101-003 邦线切应力测试 AEC-Q101-004 同步性测试方法 AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q102 车用分立光电半导体元器件可靠性验证测试 AEC-Q102-001 露水测试 AEC-Q102-002 电路板柔性测试 ...