50倍放大，条件：引脚产品MethodA@235℃,category3.18J-STD-002SMD产品：a)MethodB,4小时@155℃干热@235℃b)MethodB@215℃category3c)MethodDcategory3@260℃19UserSpec每批和规定数量的样品进行参数测试。室温下和工作温度下最小，最大平均，标准值。AEC-Q200最少保留60秒21005AEC-Q20022006 注：受压前电...
17、ce Mount / Shear Stress Test-附录6-AEC-Q200-006 端子强度(表面贴装元件)/切应力测试Attachment 7 - AEC Q200-007 - Voltage Surge Test 附录7-AEC-Q200-007电压浪涌测试- AEC-Q005 Pb-Free Requirements AEC-Q005无铅测试要求-AEC-Q200 REV D June 1, 2010Automotive Electronics CouncilComponent Tec...
0/0 收藏人数: 6 评论次数: 0 文档热度: 文档分类: 汽车/机械/制造--待分类 系统标签: aec良品率sblsylwaferlots AEC-Q002RevAAugust25,2000LSLUSLGUIDELINESFORSTATISTICALYIELDANALYSISLSLUSLLSLUSLComponentTechnicalCommitteeAutomotiveElectronicsCouncilAEC-Q002RevAAugust25,2000ComponentTechnicalCommitteeAutomotiveElectr...
Note: For best SYL and SBL results, use test limits based on Part Average Testing Limits (PAT) as described in AEC Q001. 1.2 References AEC-Q001 Guidelines for Part Average Testing AEC-Q100 Stress Test Qualification for Integrated Circuits AEC-Q101 Stress Test Qualification for Discrete Semicond...
0/0 收藏人数: 6 评论次数: 0 文档热度: 文档分类: 汽车/机械/制造--待分类 系统标签: aec良品率sblsylwaferlots AEC-Q002RevAAugust25,2000LSLUSLGUIDELINESFORSTATISTICALYIELDANALYSISLSLUSLLSLUSLComponentTechnicalCommitteeAutomotiveElectronicsCouncilAEC-Q002RevAAugust25,2000ComponentTechnicalCommitteeAutomotiveElectr...
简称 中文 英文 说明 8D 解决问题方法 AEC 汽车电子设备协会 Automotive Electronic Council 由车厂[克赖斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、通用汽车(GM)]发起并创立于1994年,目前会员遍及各大汽车厂、汽车电子与半导体厂商。 AEC-Q001 零件平均测试指导原则 AEC-Q002 统计式良品率分析的指导原则 AEC-Q003 芯片产...
AEC_Q002_Rev_B1统计产量分析指南.docx,January 12, 2012 January 12, 2012 AEC - Q002 Rev B Automotive Electronics Council Component Technical Committee GUIDELINES FOR STATISTICAL YIELD ANALYSIS January 12, 2012 January 12, 2012 AEC - Q002 Rev B Automotive E
簡稱 8D 中文 解決問題方法 英文 Automotive 汽車電子設備協 AEC Electronic 會 Council 零件平均測試指 AEC-Q001 導原則 統計式良品率分 AEC-Q002 析的指導原則 晶片產品的電性 AEC-Q003 表現特性化的指 導原則 AEC-Q005 無鉛測試要求 基於積體電路應 AEC-Q100 力測試認證的失 效機理 AEC-Q100- 邦線切...
AEC-Q200是针对汽车上应用的被动元器件的产品标准。 目前汽车产业中针对于零件资格及品质系统标准的就是AEC(汽车电子委员会),针对于主动零件所设计出的标准为 [AEC-Q100],针对于被动元件设计为[AEC-Q200],其规范了被动零件所必须达成的产品品质与可靠度。
AEC在AEC-Q100之后又陆续制定了针对离散组件的AEC-Q101和针对被动组件的AEC-Q200等规范,以及AEC-Q001/Q002/Q003/Q004等指导性原则(Guideline)。 以下供大家参考使用: AEC - Q100 Rev - G base: 集成电路的应力测试标准(不包含测试方法) AEC-Q100-001邦线切应力测试 ...