AEC - Q100-012 - REV- September 14, 2006 Component Technical CommitteeAutomotive Electronics Council ATTACHMENT 12 AEC - Q100-012 - REV- SHORT CIRCUIT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMART POWER DEVICES FOR 12V SYSTEMS 阅读了该文档的用户还阅读了这些文档 35 p. 2017年上海财经大学人文学院801经济...
Page 3 of 11 AEC - Q100-012 - REVSeptember 14, 2006 Automotive Electronics Council Component Technical Committee 3.2.1 Terminal Short Circuit (TSC) A short circuit occurring directly on the system terminals close to the device, modeled by Lshort < 1?H and Rshort = 20m?. The TSC impedance...
接受标准就是0失效。测试方法就是AEC Q100-012文件，这是AEC Q100文件的第12个附件。附加需求：适用于所有智能电源器件。这种测试和统计评估(见Q100-012第4节)应根据用户和供应商之间的协议，在个案基础上执行。那我们看一下AEC Q100-012文件说了什么？AEC - Q100-012 - REV SHORT CIRCUIT RELIABILITY CHARACTERIZ...
胜科纳米建立全面 AEC-Q100 能力,推动半导体芯片实现车规级认证-胜科纳米(苏州)股份有限公司- 在汽车电子行业持续深化变革、对芯片性能与可靠性要求日益严苛的背景下,胜科纳米成功构建起了一套全面覆盖AEC-Q100标准的测试与验证体系。通过这一全面能力的建立,胜科纳米
举个例子,从下面这个英飞凌的HSD芯片手册里面我们就能看到,ESD测试依据了AEC-Q100-002和011,短路测试用到了012。 做过汽车电子设计的小伙伴们应该都了解,温度在汽车电子设计中非常关键,所以选芯片时,温度范围这个参数就非常关键。 AEC-Q100从REVG升级到H版后,删掉了Grade4,也就是不能用于车载应用的0度～+70度温度...
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/1171377/tas6424e-q1-aec-q100-012-short-circuit
Q100-011: 带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) Q100-012: 用于 12V 系统的智能功率器件的短路可靠性特性 (请注意,Q100-003 和 Q100-006 被省略,因为新的标准已经取代了它们。 问:一个完整的电子系统不仅仅由有源元件组成。AEC-Q100 如何解决这个问题?
二AEC-Q100的子标准 类似于一般汽车零部件的DV测试,AECQ标准其实也就是一种对芯片本身的设计认可的测试标准,分为不同的测试序列,对芯片进行不同维度的测试。 由于最火热的芯片是目前全国甚至全世界的焦点,就先来看看关于芯片的测试标准。AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子标...
AEC-Q100主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。
AEC-Q100是AEC的 个标准,经过十多年的发展,AEC-Q100已经成为汽车电子系统中集成电路评价的通用标准。对于车用芯片来说AEC-Q100也是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。