GJB 548B-2005 下载积分: 500 内容提示: 文档格式:PDF | 页数:393 | 浏览次数:1000 | 上传日期:2018-12-18 08:52:55 | 文档星级: 阅读了该文档的用户还阅读了这些文档 69 p. Sound Velocities Near the Ground in the Vicinity of an Atomic Explosion 119 p. Effective Properties of ...
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GJB 548B-2005是微电子器件试验方法和程序的标准。这个标准规定了军用微电子器件的环境、机械、电气试验方法和试验程序,以及为保证微电子器件满足预定用途所要求的质量和可靠性而必须的控制和限制措施。如果承制方标明或声称其半导体集成电路符合本标准的规定,则必须满足方法5004、5005或5010(对复杂微电路)的要求,混合...
根据国际电工委员会(IEC)发布的标准548b-2005,静电放电敏感度分为四个等级:A级、B级、C级和D级。其中,A级为最高等级,D级为最低等级。 A级静电放电敏感度要求电子元器件或系统具备极高的防护能力,能够在任何情况下都能正常工作,不受静电放电的影响。这类元器件或系统多用于对静电非常敏感的应用领域,如航空航天、...
GJB548B-2005标准规定了军用电子元器件在温度循环环境下的试验方法，旨在评估元器件在极端温度变化条件下的适应性和可靠性。以下是对该标准的简要介绍：一、试验目的 本标准的试验目的在于模拟元器件在实际使用过程中可能遇到的温度变化环境，检验元器件在温度循环下的性能稳定性和可靠性。二、试验条件 试验温度范围：...
GJB-548B-2005-微电子器件试验方法和程序 LT 箱内,与试验样品接触的所有零件,应当用不产生电解腐蚀的材料制造。该箱应适当通风,以防止产生 “高压” ,并保持盐雾的均匀分布; b) 能适当地防止周围环境条件对盐溶液容器的影响。如需要,为了进行长时间试验,可采用符合试验条 件C和D( 见3.2)要求的备用盐溶液容器...
GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 星级: 405 页 MIL-STD-883J 微电子器件试验方法和程序(环境试验、机械、电气试验) 星级: 755 页 【高清版】GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序 星级: 392 页 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 星级: 392 页 (高清正版) GJB 548-88 微电子器件...
GJB-548B-2005标准是针对微电子元件试验的方法和程序进行规范的国家标准。该标准涵盖了微电子元件的各个试验环节,包括前期准备、试验方法、试验程序和结果评定等方面。 2.前期准备 在进行微电子元件试验前,需要进行必要的前期准备工作。这包括确定试验目的和要求、选择试验样品和仪器设备、制定试验方案和安排试验人员等。
07gjb548b2005代替gjb548a1996中华人民共和国国家军用标准微电子器件试验方法和程序testmethodsandproceduresformicroelectronicdevice方法10092盐雾盐汽1目的本试验是为了模拟海边空气对器件影响的一个加速的腐蚀试验11术语和定义111腐蚀corrosion指涂层和或底金属由于化学或电化学的作用而逐渐地损坏112腐蚀部位corrosionsite指...
(正版) GJB 548A-96微电子器件试验方法和程序 . 星级: 447 页 GJB548-88微电子器件试验方法和程序 星级: 344 页 (正版) GJB 548-88微电子器件试验方法和程序 . 星级: 344 页 GJB548A-96微电子器件试验方法和程序 星级: 447 页 GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序 星级: 7 页 GJB548A...