集成电路封装可靠性技术 周斌 集成电路封装测试 失效模式 失效机理 物理特性 芯片 集成电路失效分析技术可靠性评价方法书籍 9787121461514点击进入9.9元专区>> ¥178.00 (8.99折) 降价通知 定价¥198.00 暂无评分 0人评分精彩评分送积分 作者 周斌,恩云飞,陈思编著 查看作品 出版 电子工业出版社 查看作品 分类...