在以上测试序列中,对应筛选测试领域,测试序列F是我们关注的重点,该测试组通过部件平均测试(Part Average Testing, PAT)和良率统计分析(Statistical Bin/Yield Analysis, SBA/SYA)两种测试方法,对已完成自动化筛选测试的测试结果进行加严筛选,从而进一步提高芯片的可靠性。 在AEC-Q标准体系中,PAT方法和SBA/SYA方法作为...