因此,当我们在下一节讨论阶跃电压 QSCV测量技术时,应记住在特定情况下也可用许多传统基于振荡器的电容测量方法观察QSCV器件响应。此外,单是使用阶跃电压 QSCV测量技术并不能保证QSCV器件响应。 获得QSCV 响应 在解释阶跃电压 QSCV测量技术前,我们先回顾QSCV 和高频电容- 电压 (HFCV) 响应的差别。
CMOS测试技术革新，从传统斜波QSCV转向阶跃电压QSCV，如Agilent 4140B的替换，SMU扫描技术的应用，精确测量每个点的电荷变化与电压变化，以计算电容。控制测量参数是避免漏电流干扰的关键。阶跃电压QSCV：高效补偿策略，与斜波电压技术并驾齐驱，通过精心选择参数，可有效补偿偏移电容，并与振荡器测量技术相辅...
对电容表来说,“校准平面”定义了用户能获得电容表规定测量准确度的那一点(通常指电容表的 BNC 输出)。当然在参数测试中,我们需要用电缆测试 DUT。对于 4TP 测量方法的情况,测试夹具(布线) 中的残余寄生成分将带来各种误差源。图8.12 — 为进行通过测试夹具(布线) 的精确电容测量,必须计入测试夹具残余参数的影响...