扫描电子显微镜(SEM)是利用二次电子和背散射电子信号,通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器,随着科学技术水平的提高,其放大倍数 可达几十万倍,
飞纳台式扫描电镜分辨率优于1.5nm,最大200万倍飞纳台式扫描电镜实现15s抽真空,30s快速成像,二次电子、能谱探测器等多种探测器可选 SEM 图像展示 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以...
蔡司扫描电镜 应用:SEM可以用来观察样品的表面形貌,就像是用一个超级放大镜来查看物体的细节一样。在电池正极粉末颗粒的研究中,SEM可以帮助我们看到颗粒的大小、形状、表面结构等信息。 能谱仪(EDS) 工作原理:EDS是一种分析工具,它通过分析从样品中发射出的X射线来确定样品的化学成分。不同的元素在受到电子束激发时...
扫描式电子显微镜-X射线能谱仪是一种用于物理学、化学、材料科学领域的分析仪器，于2010年3月17日启用。技术指标 硬件：倍率：15～100000，观察范围：9(H)×7(V)mm～1.3(H)×1(V)mm，分辨率：8nm，观察两次电子图像和反射电子图像，观察模式：高真空、低真空（3-260Pa），显示分辨率：观察640×480，摄影...
扫描电子显微镜及电子能谱仪是一种用于材料科学、矿山工程技术、冶金工程技术领域的分析仪器，于2015年5月8日启用。技术指标 扫描电镜设备主要技术参数：1、分辨率：二次电子（SE）像分辨率在高真空时：30kV时优于3.0nm，3kV时优于10.0nm；背散射电子(BSE)像分辨率（VPwithBSD），30kV时优于4.0nm。2、放大...
发射扫描电子显微镜之能谱仪(Energy Dispersive Spectrometer)。它是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。 图1能谱探头在蔡司300扫描电子显微镜中位置示意图 原理 各种元素具有自己的X射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E(如图2),能谱仪就...
利用扫描电子显微镜(SEM)观察正极粉末颗粒的形貌,发现这些颗粒多为球状,而部分磷酸铁锂则呈现出棒状结构。这些棒状橄榄石晶体结构,长度在100-200纳米之间,直径则在5-10微米之间。通过SEM观察,可以判断材料的形貌结构,从而进一步研究形貌对电性能的改善是否有帮助。此外,利用元素分布映射(mapping)技术,还可以观察主成分元素...
扫描电子显微镜与能谱分析 §1.序 •扫描电子显微镜（ScanningElectronMicroscope，简称SEM）是继透射电镜（TEM）之后发展起来的一种电子显微镜 •扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或透射电子显微镜不同，它是以电子束作为照明源，把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描方式照射到试样上，产生各种与试样性质有关的信息...
采用扫描电子显微镜（SEM）与X射线能谱仪（EDS）联合应用的方法对材料进行微区化学成分分析是一种重要的分析手段[1],该方法方便快捷,对不平试样也可以用无标样定量程序得到较好的定性、半定量分析结果,应用较为广泛。1. EDS定量分析的基本原理 EDS是一种能采集X射线、测量X射线强度,并计算其与X射线能量函数关系的...