开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。 原理:基于扫描...
导电针尖在Nap模式下扫描时,压电马达并不振动(轻敲模式中:由压电马达振动带动探针振动,且探针可以不导电),仪器给探针同时施加一个交流电压 (产生变化的静电力使得探针振动),和一个直流电压 (用于抵消样品表面电势,使得探针振幅最小)。 因为要加电压,所以探针必须导电。 仪器实时检测探针振幅,当探针振幅最小的时候,V...
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以下是关于开尔文探针力显微镜数据处理的一些关键步骤和注意事项。 🔍 接触模式AFM 接触模式AFM是一种排斥性模式,探针尖端与样品做柔软性的“实际接触”。当针尖轻轻扫过样品表面时,接触的力量会引起悬臂弯曲,进而得到样品的表面图形。这种模式通常适用于产生稳定、分辨率高的图像,但不适用于研究生物大分子、低弹性模量...
扫描开尔文探针显微镜是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2012年3月7日启用。技术指标 1 纵向分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率。 2 横向分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率。 3 噪声水平：＜0.3 ？，可持续稳定地达到原子级分辨率。对外界环境具有较高的抗干扰性（有防震系统）。 4 开尔文探针分辨率：形貌...
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金属和半导体纳米结构可用于从生物传感器到太阳能电池的各类设备中。因为纳米结构、表面和设备的表面电位会对局部的化学和物理现象产生强烈的影响,研究人员对分析这些性能很感兴趣,。开尔文探针力显微镜(KPFM)可以对各种样品进行高分辨率的表面电位和形貌成像。
开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种高分辨率的扫描探针显微镜,主要用于表面电荷和电势的测量。它基于原子力显微镜(AFM)技术发展而来,结合了电势差测量技术,成为研究电荷分布和表面电位的有力工具。以下是对开尔文探针力显微镜检测信号的介绍: ...
KPFM的原理基于开尔文(Kelvin)电位法,该方法由威廉·汤姆生(William Thomson)开发,在19世纪70年代被用于测量金属导体的电势。KPFM是将开尔文电位法与AFM的力测量技术相结合,可以在纳米尺度上测量表面的电荷分布。 KPFM的关键元件是探针,它包括扫描探针和参考探针。扫描探针是一根细尖的导电材料,被用来感知表面电势变化。