开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。 原理:基于扫描...
金属和半导体纳米结构可用于从生物传感器到太阳能电池的各类设备中。因为纳米结构、表面和设备的表面电位会对局部的化学和物理现象产生强烈的影响,研究人员对分析这些性能很感兴趣,。开尔文探针力显微镜(KPFM)可以对各种样品进行高分辨率的表面电位和形貌成像。
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开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一种非常强大的工具,它能够同时获取样品的微观表面形貌和表面电学性质信息,而无需对样品造成损伤。KPFM主要测试导电探针和样品表面的接触电势差(CPD),这使得它能够清晰地分辨出合金样品中不同材料的电势差分布。🔍...
KPFM的原理基于开尔文(Kelvin)电位法,该方法由威廉·汤姆生(William Thomson)开发,在19世纪70年代被用于测量金属导体的电势。KPFM是将开尔文电位法与AFM的力测量技术相结合,可以在纳米尺度上测量表面的电荷分布。 KPFM的关键元件是探针,它包括扫描探针和参考探针。扫描探针是一根细尖的导电材料,被用来感知表面电势变化。
开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种高分辨率的扫描探针显微镜,主要用于表面电荷和电势的测量。它基于原子力显微镜(AFM)技术发展而来,结合了电势差测量技术,成为研究电荷分布和表面电位的有力工具。以下是对开尔文探针力显微镜检测信号的介绍: ...
开尔文探针力显微镜检测的是样品表面的电势信号。通过非接触式测量,它能精确获取样品在纳米尺度的电势分布,对材料科学、半导体研究等领域至关重要。店内提供的开尔文探针力显微镜,具备高精度探测头与先进数据处理系统,确保测量结果准确可靠。现在店内正好有高精度型号,能满足各种科研与工业检测需求。无论您是进行材料研发还...
KPFM的原理基于场发射效应,即样品表面的电子会经由尖端金属探针发射到空气中,并产生电流。电流的强度与样品表面的电势差成正比,可以通过测量电流来计算电势差。由于探针与样品表面之间有细微的作用力,因此KPFM可以确定表面电势差和力信息,从而提供有关样品电子性质的详细信息。 总之,开尔文探针力显微镜原理是通过扫描探针显微镜...