检测中心 原子力显微镜AFM 一、KPFM 开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米...
开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种高分辨率的扫描探针显微镜,主要用于表面电荷和电势的测量。它基于原子力显微镜(AFM)技术发展而来,结合了电势差测量技术,成为研究电荷分布和表面电位的有力工具。以下是对开尔文探针力显微镜检测信号的介绍: 一、检测信号概述 开尔文探针力显微镜检测的核心信号...
其原理基于开尔文电势的测量,即通过测量样品表面与参考电极之间的电势差来确定样品表面的电势分布。KPFM的工作原理可以分为以下几个步骤:1. 将探针放置在样品表面上,并通过AFM的力探测系统测量探针与样品之间的力。2. 在探针与样品之间施加一个交变电压,使得探针表面的电荷在交变电场的作用下发生振荡。3. 通过测量...
最近开始利用开尔文探针力显微镜(KPFM)来测试聚合物材料的表面电势。利用两台不同的KPFM仪器分别得到如下两种表面电势图,电压标尺的标注方式不同,一种是电压标尺有正有负,一种是电压标尺全部为正数。我知道的是KPFM测得是接触电势差,这个数值应该是相对值,不应该有正负。但这种接触电势差又可认为是相对于探针的相对...
开尔文探针力显微镜(KPFM)是一种探测样品表面静电电势分布的扫描技术。具体讲就是在样品和针尖之间施加一个已知的偏压,然后通过KPFM测量样品的表面电势分布。HF2PLL锁相放大器支持KPFM的若干形式,本文介绍如下几种常见的KPFM。 (1)振幅调制的KPFM(AM-KPFM) (2)频率调制的KPFM(FM-KPFM) (3)快速FM-KPFM (4)双...
1.一种基于开尔文探针力显微镜的表面电势测量方法,其特征在于,包括如下步骤: 步骤1、将待测样品固定在位于扫描管上方的样品台上,令探针外加直流电压V<Sub>dc</Sub>=0V,使开尔文探针力显微镜工作在双谐振模式; 步骤2、使探针与样品之间的交流电压V<Sub>ac</Sub>在0V~10V范围内按固定步长线性增加,针尖与样品距...
所有的 KPFM 模式都需要一个 VAC+VDC的电驱动,偏置电压反馈仅作用于 VDC上,且被记录下来以反映表面电势。通过对直流偏置电压进行扫描,我们可以重建 CPD 抛物线。VAC的调制用于确定该抛物线的最高点,方法是通过锁相放大器或 PLL 测量由此产生的静电力调制,并将该调制的 X 分量降到最低。
开尔文探针力显微镜。开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope,KPFM)是一种高分辨率的扫描探针显微镜,主要用于表面电荷和电势的测量。该显微镜的工作原理基于原子力显微镜(AFM),并结合了电势差测量技术,使其成为研究电荷分布和表面电位的有力工具。
摘要 本发明属于材料测试技术领域,具体涉及了一种基于开尔文探针力显微镜的表面电势测量方法。利用开尔文探针力显微镜测量得到的针尖一倍频振幅、二倍频振幅与针尖上施加的直流偏压的关系曲线,确定开尔文探针力显微镜测量表面电势时针尖与样品的距离,最终以此针尖与样品的距离实现对样品表面电势的准确测量。新闻...
摘要: 本发明属于材料测试技术领域,具体涉及了一种基于开尔文探针力显微镜的表面电势测量方法.利用开尔文探针力显微镜测量得到的针尖一倍频振幅,二倍频振幅与针尖上施加的直流偏压的关系曲线,确定开尔文探针力显微镜测量表面电势时针尖与样品的距离,最终以此针尖与样品的距离实现对样品表面电势的准确测量....