开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。 原理:基于扫描...
最近开始利用开尔文探针力显微镜(KPFM)来测试聚合物材料的表面电势。利用两台不同的KPFM仪器分别得到如下两种表面电势图,电压标尺的标注方式不同,一种是电压标尺有正有负,一种是电压标尺全部为正数。我知道的是KPFM测得是接触电势差,这个数值应该是相对值,不应该有正负。但这种接触电势差又可认为是相对于探针的相对...
答：KPFM测得是接触电势差，是探针-样品间的差，这个值正负均有，主要取决于样品和探针的表面特性。2...