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一、少子寿命测试仪仪器简介: 从匈牙利Semilab公司引进,主要应用于半导体/光电/光伏材料(单晶/多晶硅片及硅锭)的工艺控制及测试手段。通过测量少子寿命,可做出晶体生长及工艺过程引入的缺陷图及硅片中的Fe元素污染图。仪器主要功能有微波光电导衰减法测少子寿命,光诱导电流测试,无接触方块电阻测试,涡流场体电阻率测试,Fe...
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MDPspot少子寿命测试仪优点: ◇ 台式装置,用于载流子寿命的单点测量,多晶硅或单晶硅在不同的制备阶段,从原生材料到器件。 ◇ 体积小,成本低,使用方便。附带一个基本的软件,用于在小型PC或笔记本上进行结果可视化。 ◇ 适用于硅片到砖,操作高度调节方便。 细节: ◇ 允许单晶圆片调查 ◇ 不同的晶圆级有不同的...
智能电器寿命测试仪器elta-a 本仪器模拟电器产品实际使用情况,根据用户设定的“通断电时间”和“内外循环数”控制被测产品通断电状态和循环次数,测试产品使用寿命,并实时检测各项电参数及温度。仪器具有多种故障检测和自保护功能,是电器产品寿命测试的理想产品。 三大功能: 1、寿命测试:根据设定的通断电时间和双重通断...
GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而的用于测量硅单晶的非平衡少数载子寿命。半导体材料的少数载子寿命测量,是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较,配备有红外光源,可测量包括集成电路硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。