腐蚀性失效:是指产品受到化学腐蚀、电化学腐蚀,或材料出现老化、变质而造成的失效。对于电子元器件产品,腐蚀性失效主要是由腐蚀性物质(如酸、碱等)的侵入或残留造成的,也与外部的温度、湿度、电压等因素有关。通过了解这些失效模式和机理,我们可以更好地预防和避免电子元器件的失效,提高产品的可靠性和稳定性。0 0 ...
失效模式:各种失效的现象及其表现的形式。 失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。 1、电阻器的主要失效模式与失效机理为 1) 开路:主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落,基体断裂,引线帽与电阻体脱落。 2) 阻值漂移超规范:电阻膜有缺陷或退化,基体有可动钠离子,保护涂层不良。 3) 引线断裂:电阻体...
失效模式:各种失效的现象及其表现的形式。 失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。 1、电阻器的主要失效模式与失效机理为 1) 开路:主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落,基体断裂,引线帽与电阻体脱落。 2) 阻值漂移超规范:电阻膜有缺陷或退化,基体有可动钠离子,保护涂层不良。 3) 引线断裂:电阻体...
（1）完全无法执行原定功能。（2）部分功能受到损害，导致功能降低。（3）关键性能参数发生显著变化，影响使用效果。（4）出现严重损伤或潜在隐患，继续使用将危及可靠性与安全性。接下来，我们将深入探讨电阻器的失效模式和失效机理。（1）失效模式 电阻器在失效时所表现出的各种现象和形式。（2）失效机理 导致电阻...
失效模式对比 二氧化锰钽电容的主要失效模式为短路，风险相对较高；而高分子聚合物钽电容则以开路为主要失效模式，风险较低。失效机理差异 二氧化锰电容因热敏感性和电气过载而易失效；高分子聚合物电容则更易受老化和机械应力影响，但自愈能力较强。了解并区分这两种钽电容的失效机制和模式 对于合理选择应用场景、提升...
常见的失效机理包括设计缺陷导致的劣化、体内劣化、表面劣化、金属化系统劣化、氧化层缺陷、键合缺陷、封装劣化和腐蚀失效等。根据不同类型的电子元器件，这些机理可能进一步细分，直至找到最后的失效原因。要准确理解失效模式与机理，必须借助高级的失效分析工具和方法，进行深入细致的分析。这有助于提升产品质量...
失效模式是指电子元器件失效的形式和现象,侧如开路、短路、无功能、参数漂移或退化、接触不良等(根据不网的电子元器件类型还可进行细分)。失效模式只表示电子元器件是怎样失效的,不涉及电子元器件为什么会失效。有了一定数量的失效电子元器件,就可计算各种失效模式所占的百分数,即失效模式分布。失效模式的数据可以从类...
1. 在电子世界中，元件可能会遭遇挑战——失效。失效指的是元件在应力测试或实际操作后，电性能或物理化学特性不再符合预设标准。2. 失效模式如同电子元件的“病症”，描述了元件失效的具体形态和现象。常见的失效模式包括开路、短路、功能丧失、参数漂移、接触不良等。3. 失效模式仅描述了问题的表现，并...
通过统计分析，我们可以计算各种失效模式的频率，形成失效模式分布，这通常来源于工艺参照、产品样本测试、用户反馈等多方面的信息，但用户现场数据往往最能揭示真实情况。失效机理，如同电子元件的“病因”，揭示了导致失效的深层次物理或化学过程。它解释了为何元件会失去功效，例如，疲劳、腐蚀和过应力等都...
失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。 1、电阻器的主要失效模式与失效机理为 1) 开路:主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落,基体断裂,引线帽与电阻体脱落。 2) 阻值漂移超规范:电阻膜有缺陷或退化,基体有可动钠离子,保护涂层不良。 3) 引线断裂:电阻体焊接工艺缺陷,焊点污染,引线机械应力损伤。