原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种用于研究表面形貌和表面特性的高分辨率扫描探针显微镜。它利用微悬臂上的针尖与样品表面之间的相互作用力来获取表面形貌和表面特性信息。AFM可以测试各种材料表面的形貌、粗糙度、弹性、硬度、化学反应等特性，广泛应用于纳米科学研究领域。AFM测试的内容主要包括以下几...
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是一种具有原子级别高分辨率的新型表面分析仪器,它不但能像扫描隧道显微镜(STM)那样观察导体和半导体材料的表面现象,而且能用来观察诸如玻璃、陶瓷等非导体表面的微观结构,还可以在气体、水和油中无损伤地直接观察物体。AFM是基于针尖与样品之间原子作用力的探测,不要求样品具有导...
原子力显微镜(AFM)是一种具有高分辨率的显微仪器,其测试对象和应用领域相当广泛。以下是对AFM的测试对象、应用领域以及基本工作原理的详细介绍: 测试对象 AFM的研究对象可以是有机固体、聚合物、生物大分子等。样品的载体选择范围也很大,包括云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片、二氧化硅和某些生物膜等。其中,新剥离的云母...
原子力显微镜（AFM）是一种强大的纳米级表征工具，通过测量样品表面分子（原子）与AFM微悬臂探针之间的...
AFM原子力显微镜测试什么? 原子力显微镜(AFM)是一种高分辨率显微镜,它可以用来测试和观察各种不同尺度和类型的样品表面。AFM以原子尺度的敏感度和高分辨率成像而闻名,它的应用领域非常广泛。 AFM原子力显微镜的测试内容 表面拓扑和形貌: AFM最常见的应用之一是观察和测量样品表面的拓扑和形貌。它可以生成高分辨率的三维...
原子力显微镜测试AFM主要测试什么?对样品有什么要求 AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是应用范围广,可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。
原子力显微镜是通过探针与被测样品之间微弱的相互作用力来获得物质表面形貌的信息，因此，原子力显微镜除导电样品外，还能够观测非导电样品的表面结构。如果想要挑选原子力显微镜，可以考虑Park原子力显微镜的Park NX10。Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是应用范围广,可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。 在飞秒检测做AFM测试对样品有以下几点要求: (1)对...
原子力显微镜测形貌像之外什么像原子力显微镜(AFM)虽然名字里有“显微镜”三个字,但它并不像光学显微镜和电子显微镜那样能“看”微观下的物体,而是通过一根小小的探针来间接地感知物体表面的结构,得到样品表面的三维形貌图象,并可对三维形貌图象进行粗糙度计算、厚度、步宽、方框图或颗粒度分析。 AFM主要由带针尖的微...