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半导体集成电路的可靠性及评价方法 作者:章晓文编著出版社:电子工业出版社出版时间:2015年10月 手机专享价 ¥ 当当价降价通知 ¥65.50 定价 ¥88.00 电子书价 ￥35.20 配送至 北京市东城区 运费6元,满49元包邮 服务 由“当当”发货,并提供售后服务。
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本书共11章,以硅集成电路为中心,重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。随着集成电路设计规模越来越大,设计可靠性越来越重要,在设计阶段借助可靠性仿真技术,评价设...
半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法分析研究 探讨了半导体集成电路可靠性设计技术,分析了栅氧化层测试技术与数据处理方法,介绍了斜坡电压测试和介质击穿的实验两种方法,并给出了热载流子注入测试技术与数据处理方法. 马俊 - 《电脑编程技巧与维护》 被引量: 3发表: 2016年 半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法 ...
简介 本书共11章,以硅集成电路为中心,重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。目录封面 内容提要 版权页 丛书序 前言页 目录 第1章 绪论 1.1 半导体集成电路的...