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多位日本半导体专家倾力打造 作者:[日]可靠性技术丛书编辑委员会出版社:机械工业出版社出版时间:2024年03月 手机专享价 ¥ 当当价降价通知 ¥83.60 定价 ¥99.00 配送至 北京市东城区 运费6元,满49元包邮 服务 由“当当”发货,并提供售后服务。
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本书共分为4章,内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路(LSI)的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。笔者在书中各处开设了专栏,用以介绍每个领域的某些方面。在第2~4章的末尾各列入了3道例题,这些例题出自日本科学技术联盟主办的“初级可靠性技术者...
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分析流程摘自:图解入门半导体器件缺陷与失效分析技术精讲作者:上田修 山本秀和;机械工业出版社日 可靠性技术丛书编辑委员会 主编二川清 编著上田修 山本秀和 著李哲洋 于乐 译各种分析工具可有效提升良率多位日本半导体专家倾力打造硅集成电路的失效分析功率器件的缺陷,失效分析化合物半导体发光期间的缺陷,失效分析...
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