答:闩锁效应是CMOS工艺所特有的寄生效应,严重会导致电路的失效,甚至烧毁芯片。闩锁效应是由NMOS的有源区、P衬底、N阱、PMOS的有源区构成的n-p-n-p结构产生的,当其中一个三极管正偏时,就会构成正反馈形成闩锁。避免闩锁的方法就是要减小衬底和N阱的寄生电阻,使寄生的三极管不会处于正偏状态。 静电是一种看不见...
简要回答什么是闩锁效应(Latch-up效应) 相关知识点: 试题来源: 解析 对于MOSFET来说,漏端夹断区内的电场很高,一部分电子进入夹断区后获得很高的能量成为热电子,克服Si-SiO2界面大约3.1eV的势垒进入到氧化层内成为氧化物固定电荷;同时,电子在强电场中也会发生碰撞电离而产生更多的电子-空穴对,其中的空穴被衬底收集...
闩锁效应是指CMOS集成电路中由于寄生的NPN和PNP三极管相互导通,导致电源VDD和地VSS之间产生低阻抗通路,引发大电流通过,可能对芯片造成永久性损坏的风险。具体来说: 闩锁效应的产生原因 闩锁效应是由NMOS的有源区、P衬底、N阱、PMOS的有源区构成的n-p-n-p结构产生的。这种结构会在特定条件下,如静电放电(ESD)、瞬...
闩锁效应(Latch-up)是CMOS工艺中特有的寄生效应,指的是在CMOS电路中,电源VDD和地GND之间由于寄生的NPN和PNP双极性BJT的相互影响而产生一个低阻通路,从而形成大电流,可能导致芯片永久性损坏。 闩锁效应的原理: 在CMOS集成电路中,由于晶体管之间的PN结和寄生双极型晶体管的存在,当某些特定条件下,比如电源电压变化、I...
闩锁效应是指在某些系统中,由于特定条件的存在,使得系统进入一种“锁住”的状态,无法继续正常运行或产生所期望的结果。这种效应可能会导致系统停滞、失灵或陷入不可逆的状态。 1.闩锁效应的定义 闩锁效应是指在系统中出现的一种异常状态,其中多个因素相互作用,导致系统处于停滞或无法正常运行的状态。这种效应可能是暂时...
闩锁效应指在统计决策中,事件的概率被高估或低估的现象。它可以发生在个体或群体当中。 1.闩锁效应的产生原因 有很多原因会导致闩锁效应的产生。其中最常见的原因是人们过度关注具有代表性的信息而忽略了底层数据,这种信息常常是不典型或偏差的。另一个原因是人们对风险的态度,他们可能对潜在损失更加敏感,而对潜在收益...
Latch Up(闩锁效应)是在CMOS电路中存在的一种重要现象。 首先,从本质上来说,闩锁效应是一种由于CMOS电路中固有的寄生可控硅结构被触发导通而产生的现象。这种寄生可控硅结构实际上是由双极晶体管组成的。当这一结构被导通时,在电源和地之间会形成一个低阻抗的大电流通路,这就可能导致电路出现严重的问题。 从电路...
"Latch-up"(闩锁)效应是指在集成电路中的一种不可逆的状态,其中两个互补型晶体管(PNP和NPN)形成一个相互连接的正反馈环路,导致电路失去控制。这会导致电流异常增大,可能损坏或破坏器件。Latch-up通常是由于集成电路中的PNP和NPN晶体管之间的结构不完善或者设计不当引起的。 Latch-up的发生通常需要两个条件同时满足...
答:闩锁效应就是指CMOS器件所固有的寄生双极晶体管〔又称寄生可控硅,简称SCR〕被触发导通,在电源和地之间形成低阻抗大电流的通路,导致器件无法正常工作,甚至烧毁器件的现象。这种寄生双极晶体管存在CMOS器件内的各个部分,包括输入端、输出端、内部反相器等。当外来干扰噪声使某个寄生晶体管被触发导通时,就可能诱发闩锁...