但总的来说，二次电子更擅长表现形貌，背散射电子更擅长表现组成与结构。
所以相同条件下，二次电子的分辨率是优于背散射图像的。
总的来说，二次电子像和背散射电子像在SEM中用于不同的信息获取目的。SEI用于观察样品表面的形貌和微观结构，而BEI用于分析样品的化学成分和原子核密度分布。根据研究的需求，可以在SEM中选择合适的成像模式来获取所需的信息。
总结而言，二次电子成像与背散射成像在成像原理、能量、分辨率以及适用场景上存在显著差异。二次电子成像以其高分辨率捕捉样品表面信息，适用于研究表面形貌与结构；而背散射电子成像则以其能揭示内部信息的能力，适用于元素分布、相态分析等场景。选择合适的成像技术，需根据具体研究需求与样品性质进行考量。
扫描电镜二次电子及背散射电子成像技术 扫描电镜成像主要是利用样品表面的微区特征,如形貌、原子序数、化学成分、晶体结构或位向等差异,在电子束作用下产生不同强度的物理信号,使阴极射线管荧光屏上不同的区域
特点及应用：二次电子像具有分辨率高、景深大；立体感强的特点，F≈d0/β主要用于反映样品表面形貌。
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SEM扫描电镜二次电子成像和背散射电子成像的区别 很多小伙伴竟然傻傻分不清#扫描电镜 #SEM #二次电子 #背散射电子 - e测试-小阳师兄于20240304发布在抖音,已经收获了45.3万个喜欢,来抖音,记录美好生活!
背散射电子是入射电子被样品散射然后成像，能量很高，接近入射电子。可以反应样品内部比较深的信息，分辨率...
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