飞行时间-二次离子质谱仪（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，简称TOF-SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术。其原理是基于一次离子与样品表面相互作用（如下图）。高能一次离子束（如Ga+，Bi3+， Arn+，Cs+等）轰击样品表面，在轰击区域产生包含样品表面成分信息的带电粒子即离子，这些带电离子经过质...
SIMS分析有时根据入射离子束中离子的通量(每平方厘米样品中撞击的离子数量)来区分“静态”和“动态”。与静态SIMS相比,动态SIMS使用的主离子通量要高得多,因此样品的穿透力更强(纳米到微米)。这也为分析低浓度离子(如掺杂剂和低丰度同位素)提供了更高的灵敏度。...
TOF-SIMS是将二次离子质谱技术与飞行时间质量分析技术相结合的前沿科学技术之一。早期的德国科学家Benninghoven及其研究团队使用磁场偏转质量分析器和四级杆质量分析器做S-SIMS研究,并于1979年制造了一台TOF-SIMS,称之为TOF-SIMS Ⅰ;随后又制备了反射型TOF-SIMS Ⅱ。1985年Benninghoven研究团队又将激光-SNMS装置整合到TO...
TOF-SIMS工作原理1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，...
TOF-SIMS是一种分析技术,可对材料表面元素和分子进行深度剖析 。 飞行时间二次离子质谱通过检测二次离子飞行时间来确定其质量 。它能实现超高空间分辨率的表面成分成像 。可分析有机和无机材料中的各种元素与化合物 。对痕量元素的检测灵敏度极高 。能对样品表面纳米尺度区域进行成分分析 。工作原理基于一次离子束轰击...
SIMS 原理 对于一次SIMS分析,固体表面被几keV能量的一次离子轰击,一次离子的能量会通过原子碰撞和所谓的级联碰撞传递给样品表面原子。部分能量被传递回表面,使表面原子或分子化合物克服表面结合能。 级联碰撞与表面分子的相互作用足够轻柔,甚至可以使质量高达12,000 u 的非挥发性大分子完整地从表面分离并逸出,且不产生...
TOF-SIMS工作原理包含以下几个步骤：首先，聚焦的一次离子束稳定轰击样品表面，产生二次离子。这些二次离子按质荷比实现质谱分离后，被收集以得知样品的元素组成和分布。特别的是，TOF技术利用离子飞行时间仅依赖于其质量的特性，实现对样品的高分辨率和高灵敏度分析。TOF-SIMS测试用途 TOF-SIMS技术广泛应用...
TOF SIMS_德国IONTOF_飞行时间二次离子质谱的原理和功能.mp4 是在优酷播出的教育高清视频,于2020-04-13 16:49:17上线。视频内容简介:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,适用于许多工业和研究应用。 该技术可并行探测所有元素和化合物,具有极
TOF-SIMS的工作原理涉及聚焦离子束轰击样品，产生电离的二次离子，通过质荷比分离，收集这些离子来获取元素组成和分布信息。其独特的TOF特性使得它能进行无损静态分析，并通过调整脉冲频率扩展质量范围。TOF-SIMS具有多种测试用途，包括定性和定量分析，具有高深度分辨率和极小区域分析能力，甚至能提供三维图像...