背向散射电子衍射技术 （Electron Back Scatter Diffraction, EBSD）是一种利用衍射电子束来鉴别样品结晶学方位的技术。挂载在扫描式电子显微镜（Scanning Electron Microscopy, SEM）中，倾斜角度约70度，加速后的电子束射入样品中，产生反弹的背向散射电子，经过表面晶体结构衍射，携带着样品表面的晶粒方位的资讯，进入...
背向散射法是一种光学测量方法,常用于光纤通信等领域。它利用光纤中的光散射现象,特别是背向散射光,来获取光纤长度上的信息。 背向散射法的基本原理是,当一束光射入光纤时,会与光纤中的物质发生相互作用,产生散射光。其中,背向散射光是指从光纤的后端射出的散射光。通过在光纤的末端观察背向散射光的时间曲线,可...
背向散射法广泛应用于材料科学和工程领域。在材料科学中,背向散射法可以用于研究材料的微观结构和化学成分。例如,科学家可以通过测量不同材料背向散射的电磁波的特性,来分析材料的晶体结构和晶格缺陷。此外,背向散射法还可以用于材料的表界面分析,例如测量涂层材料的厚度和各向异性等。 在工程领域,背向散射法可以应用...
解析 背向散射法是一种沿光纤长度上测量衰减的方法。光纤中的光功率绝大部分为前向传播,但有很少部分朝发光器背向散射。在发光器处利用分光器观察背向散射的时间曲线,从一端不仅能测量接入的均匀光纤的长度和衰减,而且能测出局部的不规则性、断点及在接头和连接器引起的光功率损耗。
g射线源和g射线探测器之间用铅屏蔽并同时放置在被测材料表面，g射线源所发射出的g射线进入被测材料，经一次或多次碰撞、散射，改变原来运动方向而损失能量，最终到达g射线探测器而被记录。这种通过测量散射g射线计数率来测定被测材料密度的方法称作g射线背向散射法。——引自DL 5270—2012 核子法密度及含水量测试...
这种抑制微环谐振腔中背向散射的创新方法代表了集成光电子技术的重要进展。通过在特异点工作并利用非保守耦合,该系统实现了有效的背向散射抑制,同时增强了弗洛凯模式转换。 该方法与现有光电子技术平台的兼容性以及对制造缺陷的容忍度使其特别适合实际应用。随着集成光电子技术持续发展,这种技术为改善光量子通信、信息处理...
光纤背向散射是指入射光在光纤内部发生多次散射后,部分散射光返回到光纤入口处。这种散射现象由于光纤的材料及结构特性所致,可以通过光纤背向散射曲线来描述。 光纤背向散射曲线通常使用对数坐标来表示,横轴表示与入射光线成指定角度的方向,纵轴表示散射光的强度。常见的光纤背向散射曲线是指数衰减曲线,即一条向下逐渐降低...
当被测物体中的X射线与闪烁体探测器相互作用时,会发生散射,散射的X射线会在闪烁体探测器上产生荧光。通过捕获和分析闪烁体上的荧光信号,可以确定散射的方向和能量。 根据背向散射技术的原理,可以获取被测物体的一些特征信息。 首先,背向散射技术可以测量物体的厚度。当X射线穿过物体时,散射的强度取决于物体的厚度。
根据光子带隙光纤背向散射次波定义推导了背向散射系数αsc理论表达式,建立了背向散射次波理论模型。在光子带隙光纤模型中,表面形貌功率谱密度的求取至关重要。为了对光子带隙光纤进行准确建模,需要精确测量纤芯内壁表面形貌功率谱密度。 纤芯内壁表面形...