我们讨论了电阻器的长期漂移随着其工作时间的立方根而增加,晶体老化往往与时间呈对数关系。由于老化而导致的运算放大器失调电压偏差也是时间的非线性函数。运算放大器失调的长期漂移与经过时间的平方根成正比。因此,如果将老化效应指定为1 μV/1000小时,则失调可以变化约3 μV/年,计算如下: 失调的长期变化通常以μV/...
芯片可靠性是IC设计中不可忽视的重要环节。通过深入了解影响芯片可靠性的因素、积极应对老化效应以及利用先进的仿真工具进行可靠性仿真,我们可以有效提升芯片的整体性能和寿命,为电子设备的稳定运行提供有力保障。 国微芯的EsseSim仿真工具结合EsseChar工具、EsseSanity工具等一系列的工具,为芯片设计行业提供更加高效、准确的...
2.样品成分:复杂样品(如含有油脂、酸性或碱性成分)可能会对固定相造成损害,加速老化过程。 3.载气流速:不当的流速设置可能导致柱内压力过大,从而加速老化。 4.清洗和维护:不当的清洗方法或频率也会影响色谱柱的使用寿命。 老化效应对分离效率的影响 1.保留时间的漂移:随着色谱柱老化,固定相的性质发生变化,可能导...
晶体管的老化效应主要是HCI与NBTI已经是无需争论的事实,而HCI在电路中主要受到信号翻转率(SA,Switch Activity)的影响,而NBTI主要受到信号占空比(SP,Signal Probability)的影响也早已成为常识,并在多篇问论文中体现[1][2]。集成电路的老化或者说这里的晶体管的老化会同时存在这两种效应,但是如果这两种效应的占比不同...
电老化试验中的老化效应形式有电晕放电或局部放电老化、电弧老化、树枝化老化、电化学老化。 知识拓展: 电老化是由电介质内部的局部放电引起的。在强电场作用下,电介质中存在的气隙等杂质发生局部放电。这种局部放电属非完全击穿,并不立即形成贯穿性放电通道,但在持续电压的作用下局部放电逐步发展,最后导致击穿。
随机游走现象:电子元件老化是一个随机过程 值得注意的是,老化效应是一个随机过程,设备的实际老化行为可能太复杂,无法用简单的公式来描述。老化有时被认为是一种“随机游走”现象。当不相关的随机“步骤”被整合时,随机游走过程就会产生。它的离散时间表示为: ...
我们之前讨论过，电阻的长期漂移随其工作时间的立方根增加而增加，而晶体老化则更倾向于与时间呈对数关系。同样地，运算放大器失调电压的老化偏差也是时间的非线性函数。具体来说，运算放大器失调的长期漂移与经过的时间的平方根成正比。因此，如果老化效应指定为1 μV/1000小时，那么每年的偏移量变化大约为3 μV。偏...
近日,松山湖材料实验室联合中科院物理所、钱学森实验室和南京大学系统研究了月球玻璃地质时间尺度的老化效应和抗老化机制。相关成果日前在国际学术期刊《科学进展》发表。 玻璃被认为是气、液、固之外的第四态物质,其应用关系到我们日常生活的方方面面。玻璃老化,会导致其结构和性能随着时间的推移而转变,直接影...
月球玻璃是月球风化层的常见成分,主要来源于陨石撞击,它们经历了极长时间(数百万至数十亿年)的老化,依然保持着完好的玻璃结构,因此月球玻璃可以作为评价玻璃长期抗老化效应的理想材料。同时,这类超凡抗老化的月球玻璃是潜在的优质空间服役材料。月球风化也会形成玻璃,其含量(主要包括玻璃颗粒和胶结物)随着其成熟度的增高...
我们讨论了电阻器的长期漂移与其工作时间的立方根成正比，而晶体老化则往往与时间呈对数关系。由于老化导致的运算放大器偏移电压的偏差也是时间的非线性函数，具体来说，运算放大器偏移的长期漂移与经过时间的平方根成正比。因此，如果将老化效应指定为1μV/1000小时，那么偏移量在一年内可能变化约3μV。偏移的长期变化...