高频淬火试样的畸变量较火焰淬火试样的小,其平行的双面(即淬硬面和非浐硬面)同时连续加热(而非双面淬火)是--个重要原因。 现以高频淬火试样为例,分析垫片试样表面淬火后出现畸变的主要影响因素。高频淬火试样按畸变量由大至小的排序为A3-2 >A1-2 >A2-2 >B-2。由试验方法及表1可知,试样按感应加热的面积从...
相关知识点: 试题来源: 解析 解:测定样品多个不同(hkl)衍射峰的βhkl值,若βhkl与λ/cosθ成正比,则可以判断衍射峰展宽由微晶效应引起;若βhkl与tanθ成正比,则是由晶格畸变引起;若βhkl·cosθ/λ随着θ增大而增大,则微晶效应和晶格畸变共存。反馈 收藏 ...
高频淬火试样的畸变量较火焰淬火试样的小,其平行的双面(即淬硬面和非浐硬面)同时连续加热(而非双面淬火)是--个重要原因。 现以高频淬火试样为例,分析垫片试样表面淬火后出现畸变的主要影响因素。高频淬火试样按畸变量由大至小的排序为A3-2 >A1-2 >A2-2 >B-2。由试验方法及表1可知,试样按感应加热的面积从...