用平晶以技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是( )。A.球面干涉B.等倾干涉C.等厚干涉D.光学折射
用平晶以技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是( )。A. 球面干涉 B. 等倾干涉 C. 等厚干涉 D. 光学折射 如何将EXCEL生成题库手机刷题 如何制作自己的在线小题库 > 手机使用 分享 复制链接 新浪微博 分享QQ 微信扫一扫 微信内点击右上角“…”即可分享 ...