参数测试总是直接在半导体晶圆片上执行。在生产测试中,参数测试结构有时是位于晶圆片的刻线行或“街道”中,从而尽量减少器件所占的晶圆片面积。通常只是对参数测试结构,而不是对整个晶圆片进行工艺开发和可靠性测试。 图1.4 — 为节省宝贵的晶圆片面积,参数测试结构有时放在晶圆片的刻线行 (或“街道”) 内。 在...
一、 测试项目 首先我们需要了解测试系统能够对哪些种类和封装形式的器件进行测试,图1所示,DPT1000A可以对Si和SiC的MOSFET、IGBT、Diode进行测试。封装类型非常丰富,几乎囊括了所有分立器件封装类型。 接下来我们需要关注这套功率器件动态参数测试系统能够进行的测试项目都有哪些。动态测试设备的测试项目通常包括开关特性和反...
不同测试电压：绝缘电阻测试设备的测试电压为0~1000V，在100V、250V、500V和1000V等4个电压参数下进行对比测试。延迟时间为1.5s、测试时间为4.0s、测试压力为200N。测试压力和测试电压对Hi-pot测试不良（NG）品检出率影响的测试方法：实际生产中，Hi-pot测试NG电芯比例很低，为了避免大批量电芯实验，首先人为...
在IC测试中,常见的参数包括电压、电流、时间、THD等。这些参数是评估电子设备性能和可靠性的重要指标。 1.电压:在IC测试中,电压是最常见的测试参数之一,特别是对于模拟芯片。电压测试对于诸如LDO、LED驱动、音频功放、运放、马达驱动等类型的模拟芯片至关重要。此外,很多其他参数是通过电压测量间接得到的,如增益(Gain...
iPerf3是用于主动测试IP网络上最大可用带宽的工具。它支持时序、缓冲区、协议（TCP，UDP，SCTP与IPv4和IPv6）有关的各种参数。对于每次测试，它都会详细的带宽报告，延迟抖动和数据包丢失。它与原始 iPerf 不共享任何代码，也不向后兼容。它是一个C/S架构的测试工具，需要在同时运行在服务器端和客户端。支持的平台...
所有的无线测试参数如下： EVM(误差向量幅度),AllCarriers所有传输&Pilots使用 EVMvs.Carrier传输 EVMvs.Symbol标志/Time时间 I/QAmplitude振幅andPhase相位Mismatch差错 CarrierFrequencyError传输频率出错 SymbolClockError标示记录错误 Peak峰值/Average平均值Power Amplitude振幅Statistics统计(CCDF) PowerSpectralDensity Phase...
测试手机的主要参数有：1） 发射功率等级 TX power level(5～19)。2） 频率误差 frequency FER。3） 相位误差 Phase PER。4） 射频频谱 RF Spectrum。5） 开关谱 SwitchSpectrum。6） 接受灵敏度 RX Sensitivity。7） 调制谱 Modulation Spectrum。
3.测试参数 以OP-77G为例,通用运算放大器主要技术规范见下表。 3.1参数名称:输入失调电压 Vos (Input Offset Voltage)。 3.1.1参数定义:使输出电压为零(或规定值)时,两输入端间所加的直流补偿电压。 3.1.2测试方法: 测试原理如图2 所示。 图2
继电器的主要测试参数 为保证继电器的性能,需对继电器的参数进行全面的测试。继电器的主要测试参数及参数的定义如表1: 为保证继电器的质量,表1所列参数都应严格进行测试,但其中有些参数的测试特别需要引起我们的注意。 1.吸合电压和释放电压 继电器的吸合电压和释放电压的测试方法有两种,一种是直流法,一种是...
1,iperf3简介 iPerf3是用于主动测试IP网络上最大可用带宽的工具。它支持时序、缓冲区、协议(TCP,UDP,SCTP与IPv4和IPv6)有关的各种参数。对于每次测试,它都会详细的带宽报告,延迟抖动和数据包丢失。 它与原始 iPerf 不共享任何代码,也不向后兼容。 它是一个C/S架构的