UPS可测得材料的功函数Wf; 图2、 半导体的能级示意图 01 紫外可见漫反射测试计算带隙Eg 方法一、截线法。 截线法是一种简易的求取半导体禁带宽度的方法,依据原理是半导体的吸收阈值λg和其禁带宽度Eg成反比,两者之间关系式如下: Eg (eV)=1240/λg (nm) 因此,可以通过求取λg来得到Eg。从紫外可见漫反射谱...
通过测试和分析能带结构，可以揭示半导体的电子能带结构及光电性能。常见的方法包括紫外可见漫反射测试、X射线光电子能谱（XPS）和紫外光电谱（UPS）。紫外可见漫反射测试可以计算带隙。截线法和Tauc plot法是两种常用方法，截线法通过求取吸收阈值λg与禁带宽度Eg的关系来计算Eg；Tauc plot法则通过求取αhv...
UPS可测得材料的功函数Wf; 图2、 半导体的能级示意图 01 紫外可见漫反射测试计算带隙Eg 方法一、截线法。 截线法是一种简易的求取半导体禁带宽度的方法,依据原理是半导体的吸收阈值λg和其禁带宽度Eg成反比,两者之间关系式如下: Eg (eV)=1240/λg (nm) 因此,可以通过求取λg来得到Eg。从紫外可见漫反射谱...