椭偏测量法是一种地球物理测量方法,用于获取地球内部的电性结构信息。在这种方法中,测量地球上不同点的电场分量,并根据这些分量之间的关系来推断地下电性结构。然而,由于测量过程中存在多种误差来源,这些误差可能会对测量结果产生影响。 椭偏测量法可能的误差来源包括: 地面电场干扰: 周围的电场干扰可能会影响到测量...
一、表面平整度的要求 为确保光线在薄膜表面反射时不会发生额外散射,样品表面必须保持足够的平整度。任何微小的凹凸都可能影响光线的偏振状态,从而导致测量误差。 二、必要的光学特性 薄膜材料应具备一定的透明度,使光线能够穿透并在薄膜内部发生反射。此外,薄膜与基...
椭偏法测量的基本思路是,起偏器产生的线偏振光经取向一定的 1/4 波片后成为特殊的 椭圆偏振光,把它投射到待测样品表面时,只要起偏器取适当的透光方向,被待测样品表面反射 出来的将是线偏振光。根据偏振光在反射前后的偏振状态变化(包括振幅和相位的变化),便可 以确定样品表面的许多光学特性。 设待测样品是均匀涂...
椭偏仪是椭偏法测量的主要工具,根据不同的工作原理和应用场景,椭偏仪可分为多种类型。其中,旋转椭偏仪是最常见的一种,它通过旋转起偏器和检偏器,测量不同角度下光的偏振状态,从而得到材料的椭偏参数。相位调制椭偏仪则是利用调制器对光的相位进行调制,通过检测调制后的光信号,实现高精度的...
椭偏法测膜厚的直接计算方法 它基于光在薄膜表面的反射和折射特性。测量过程中涉及复杂的光学原理。能提供薄膜厚度的高精度数据。对于薄膜材料的研究具有重要意义。直接计算方法可减少误差来源。无需复杂的迭代过程。提高了测量的效率和准确性。该方法依据特定的数学模型。 充分考虑了光的偏振态变化。对实验设备的要求较...
基于椭偏法的典型工程材料高温光学常数实验研究一引言在工程材料的研究中,光学常数是描述材料光学特性的重要参数,如折射率消光系数等。随着科技的发展,高温环境下的材料性能研究变得尤为重要。椭偏法作为一种精确且非破坏性的光学测量技术,广泛应用于材料
(1)椭偏法测量的优点—能测量很薄的膜(1nm),且精度很高,比干涉法高1~2个数量级。 (2)椭偏法测量的优点—是一种无损测量,不必特别制备样品,也不损坏样品,比其他精密方法如称重法、定量化学分析法简便。 (3)椭偏法测量的优点—可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收率。因此可以作为分析工具使用。
椭偏法测薄膜厚度
椭偏法测介质膜厚度和折射率实验报告.pdf,近代物理实验报告 指导教师: 得分: 实验时间: 2009 年 11 月 02 日, 第十周, 周一,第 5-8 节 实验者: 班级 材料 0705 学号 5 姓名 童凌炜 同组者: 班级 材料 0705 学号 7 姓名 车宏龙 实验地点: 综合楼 408 实验条件
椭偏光度法 椭偏光度法(ellipsometry)是一种测量物质光学性质的方法,主要用于表征材料的光学薄膜、界面、表面等的性质。该方法通过测量入射光线在材料上发生椭偏幅度和相位的变化,来推断材料的光学性质。 椭偏光度法的原理基于光的波动性质,当光线通过材料时,其振动方向可能会发生改变。当入射光是线偏振光时,经过材料后,...