Vertical-Probe是指适合常规逻辑产品（包括SoC和微计算机产品）的多管芯测试的探针卡。它被称为“垂直型”探针卡，因为探针针垂直于基材。由于其短针状结构且与设备垂直接触，因此垂直类型最适合于测量小焊盘，高频设备。3 、微机电系统探针卡 MEMS-SP是指用于逻辑器件的探针卡（probe card），适用于微处理器和SoC器...
探针卡(Probe Card)在集成电路测试中起着至关重要的作用,尤其在晶圆测试(wafer test)环节,探针卡作为连接ATE测试机台和半导体晶圆之间的接口,确保了在芯片封装前对其电学性能进行初步测量和筛选。 1. 什么是探针卡? 探针卡可以形象地比作“医生的听诊器”,帮助工程师“听到”芯片的“心跳”。在芯片封装之前,工程师...
品牌 微针 泰克 FORMFACTOR ONTO 探针卡 敏测 英铂/MPI Horger Gassler 宏誉 三丰 precitec 更新时间:2024年12月15日 综合排序 人气排序 价格 - 确定 所有地区 实力供应商 已核验企业 在线交易 安心购 查看详情 ￥1.00/张 浙江嘉兴 微针探针卡ParaTect系列 定制厂家Probe Card品质过硬 微针品牌 昆山英博尔电...
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探针测试卡(即探针卡)是将探针卡上的测试探针与芯片上的焊区(pad)或凸点(bump)直接接触(图1),引出芯片信号,再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。探针卡(prober card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片和测试机之间的接口。探针卡对前期測试的开发及后期量产测试的良品率的保证都非常重要。
飞针可以彻底测试所有类型的探针卡，准确验证每个网络和嵌入式组件的准确性和参数值，方便检测每个工艺缺陷或元件故障。它执行离线测试，无需在 IC 测试仪上花费数小时，无需专业工程师在场即可进行探针卡测试。测试陶瓷板可以在 PCB 完成最终组装之前及早发现故障。对每个发现的缺陷提供精确的诊断信息，从而大大减少...
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