归一化探测率（Normalized Detectivity）是光电探测器的主要性能指标之一，即比探测率。该指标描述的是探测器材料对弱光的探测能力。图片所示是几种常用探测器的归一化探测率值，数值越大表示性能越好。定义式 归一化探测率或比探测度 ，可定义为： 单位为 ，即当探测器响应元面积为1cm²，放大器带宽为1Hz时，...
探测率的计算方法与波长、输入光功率、工作条件等因素有关。在典型情况下,探测率的计算方法如下: 1. 噪声电流/噪声功率:在较小的光功率下,探测器产生的电流与环境或电路中的噪声经常相比。因此,噪声水平是影响探测率的关键因素之一。噪声电流/噪声功率(通常使用dB Hz^-1/2)是一种...
一、探测器探测率的计算公式 探测器探测率可以通过以下公式进行计算: 探测率 = 探测到的信号数 / 总信号数 其中,“探测到的信号数”是指一定时间内探测器探测到的有效信号数量;“总信号数”是包括有效信号和噪声信号在内的所有信号数量。探测器探测率的计算通常需要在多次实验中进行平均值计算,以提高准...
探测率计算公式探测率是描述一个探测器性能的重要参数,探测率定义为等效噪声功率(NEP)的倒数。 等效噪声功率是指:当信号电流或者电压与噪声的均方根电流(或均方根电压)相等时,对应的入射辐通量Φe叫做等效噪声功率。 对于探测器而言,探测率越高,探测器性能越好。 作为探测器探测最小光信号能力的指标,通常用符号D...
缺陷探测率DDP是衡量测试投资回报的一个重要指标，是衡量测试工作效率的软件质量成本指标之一。概念介绍 DDP是Defect Detection Percentage的缩写，即缺陷探测率。其计算公式如下：DDP=Bugs(tester) / (Bugs(tester)+Bugs(customer))其中，Bugs(tester)为软件开发方测试者发现的Bugs数目，Bugs(customer)为客户方发现并...
比探测率(specific detectivity)表示探测器单位表面积（1cm²）和单位带宽（1Hz）的光谱探测率。比探测率是影响空间红外相机探测能力的关键指标之一，主要由背景杂散辐射决定的，当探测背景为深空背景时，探测背景红外辐射很低，可以忽略不计，此时背景限红外探测器比探测率主要受光学系统自身辐射的影响；但是当光学系统...
探测率是指探测器在特定条件下检测到信号的概率,通常用百分比表示。其计算方法为:探测率=(探测到的信号数/总共发生的信号数)×100%。在实际应用中,探测器的探测率是评估其性能优劣的重要指标之一。 二、影响探测率的因素 影响探测率的主要因素包括探测器本身的性能、工作环境以...
探测器比探测率是指在给定时间内,探测器中探测到的事件数与进入探测器的总事件数之比。比探测率越高,探测器的探测效率就越好。 二、影响探测器比探测率的因素有哪些? 1.探测器的几何尺寸:探测器的体积越大,可以探测的事例就越多,比探测率也就越高。 2.探测器的材料:不同材料对不同能...
解析 探测率 =因出现危险情况而报警的次数/出现危险情况的次数*100% 误报率 =没有危险情况而报警的次数/报警总数*100% 漏报率 =出现危险情况未报警的次数/出现危险情况的次数*100% 探测率 +漏报率=1 探测率越高越好,误报率越低越好,应杜绝漏报....