扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体
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聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）是集聚焦离子束（FIB）精密加工能力与扫描电子显微镜（SEM）高分辨率成像功能于一体的分析仪器。其核心功能包括材料微观结构观察、三维表征、透射电镜样品制备及纳米级加工，广泛应用于半导体失效分析、材料科学和纳米技术领域。该设备通过Ga离子源实现精准刻蚀与沉积，最高分辨率可达0.7...
扫描电子显微镜(SEM)是利用二次电子和背散射电子信号,通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器,随着科学技术水平的提高,其放大倍数 可达几十万倍,分辨...
扫描电镜通过电子束在样品表面周而复始的进行扫描运动,同时实时监测各种信号图像的产额,然后根据产额的多少调制成图像。 引起各种信号产额扫描电镜像衬度的来源有三个方面:① 试样本身性质(表面凹凸不平、成分差异、取向差异、表面电位差别等);② 信号本身性质(二次电子、背散射电子);③对信号的人工处理。
超高速扫描电子显微镜 充分运用多达91条并行电子束的采集速度,用纳米分辨率对厘米级样品进行成像。这款独特的扫描电子显微镜设计用于全天候连续、可靠的运行。只需简单设置高通量数据采集工作流,MultiSEM便能自动完成高衬度图像采集。 成像速度极快 自动大区域图像采集 ...
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种利用电子束与样品相互作用产生的信号来获取样品表面形貌和成分信息的高分辨率显微镜。与传统的光学显微镜相比,SEM具有更高的分辨率和更深的景深,能够观察到纳米级别的微观结构。 01 SEM扫描电子显微镜的成像原理: 扫描电子显微镜电子枪发射出的电子束经过聚焦后汇...
答案是肯定的，那就是扫描电子显微镜（SEM）。扫描电子显微镜是一种利用电子束来观察样品表面形貌和成分的高分辨率显微镜。它可以将电子束聚焦到样品上，然后根据样品反射或发射出来的不同信号来生成图像。这些信号包括二次电子、背散射电子、X射线、俄歇电子等，它们可以反映出样品的形状、结构、元素组成等信息。扫描电子...