小角X射线散射(SAXS)是一种非破坏性的分析方法,用于研究物质在纳米尺度上的结构特征。通过测量样品对X射线的微弱偏转角度(通常小于5°),可以获得关于样品内部纳米级结构的信息,如颗粒大小、形状、分布以及孔隙度等。本指南旨在提供SAXS图像分析的基本步骤和注意事项,帮助用户更好地理解和应用这一技术。 二、实验准备与数据采集 样品