1.四探针法是一种常用的测试半导体材料电阻率的方法。其基本原理是在样品上放置四个探针，通过测量探针之间的电流和电压关系，可以计算出样品的电阻率和方阻等参数。2.在四探针法测试中，探针的间距和压力会直接影响测试结果。通常，探针间距需要保持一定距离，一般为几毫米到几厘米不等，具体间距根据样品尺寸和测试精...