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《半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》是2024年3月1日开始实施的一项中国国家标准。编制进程 2023年8月6日，《半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》发布。2024年3月1日，《半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》实施。起草工作 主要起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限...