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ZSX Primus III next 日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪特点 实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析 高精度定位样品台满足合金分析高精度要求 特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差 样品室可简单移出方便清洁 操作界面简洁、自动化程度高 Rigaku ZSX Primus III next 在各种样品类型中快速定量测定从铍...
ZSX Primus III+的精度在0.0002~0.0003。产品特点：1、4KW大功率高频X射线发生器；2、采用30μm超薄铍窗膜大幅度提高检测灵敏度；3、上照式方式确保粉末样品测试的安全可靠性；4、仪器内部平行双真空室提高分析稳定性；5、全中文定性、定量分析、维护管理软件；6、对未知样品的无标样分析—New SQX软件。
ZSX Primus III + 上照型WDXRF 固体 液体 粉末 薄膜 合金的元素分析 Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气(O)到铀(U)的主要和次要原子元素。陶瓷波长色散荧光光谱仪 ZSX Primus III +具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学...
产品名称:ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪 产品型号: 产品厂商:其它品牌 产品文档: 简单介绍 格雷弗工业装备(苏州)有限公司—原厂货源,售后完备,阳光采购,送货上门。ZSX Primus III +具有创造新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延...
日本理学ZSX Primus III+采用上照式方式即光管在样品上方，能够避免粉末压片样品上的粉末微尘掉落到光管以及分光室中，造成损坏，确保了仪器的安全。ZSX Primus III+波长色散X荧光光谱仪 为验证方法的精密度，在一倜月内的不同日期、不同操作人员对3个样品各进行了15次测量，每次间隔1～10天不等，结果如下。不同...
Rigaku ZSX Primus III+ 可快速定量测定各种样品类型中从氧 (O) 到铀 (U) 的主要和次要原子元素-使用最少的标准品。优点 实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析。 高精度定位样品台满足合金分析高精度要求。 特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差。
ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪 X射线管位于分析样品上方,减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。 可在慢速和快速直接切换抽真空和卸真空速率,使粉末和金属样品的样品处理量满足使用要求。 特点: 实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度...