DelsaMax PRO 多角度Zeta电位及纳米粒径分析仪 核心技术: - 惟一通过“并行测量”技术同步获得粒径与Zeta电位数据的分析仪。 - 惟一以“多角度测量”分析Zeta电位的技术(MP-PALS)。 - *的“DelsaMax ASSIST”(选配项)辅助处理系统,自动加注样品、自动排除样品气泡,确保无干扰。 仪器性能: - 测量原理:动态光...
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通常在水性介质和中等电解质浓度下进行Zeta电位的电泳测定法,在这种情况下f(Ka)是1.5,即Smoluchowski近似。因此,对适合Smoluchowski模型的系统,即大于0.2微米的粒子分散在含大于10-3摩尔盐的电解质溶液中,可由此算法直接从迁移率计算Zeta电位。Smoluchowski近似...
纳米粒径及zeta电位分析仪确实可以用于微米级药物的检测。这种分析仪利用动态光散射技术,能够分析样品中微小颗粒的散射光强随时间的变化,从而获取颗粒的粒径信息。同时,它还能通过电泳光散射法测量zeta电位,预测胶体的稳定性,这对于微米级药物的研发和生产来说是非常有用的。
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产品特点:纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000采用*设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm;)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。
粒度及zeta电位分析仪简介: Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有*技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒...
贝克曼库尔特新发布新一代的DelsaMaxTM系列-速度与卓著功能俱备的粒径与Zeta电位分析仪。从DelsaMax Pro模型的粒径分析与Zeta电位分析独家技术到ASSIST辅助处理系统(选配项),DelsaMax系列分析仪令你的分析探索达到前所未有的深度、广度和速度。 DelsaMax Pro多角度Zeta电位及纳米粒径分析仪 – 低至45 µL的样品,快至...
DelsaMax Pro多角度Zeta电位及纳米粒径分析仪 – 低至45 µL的样品,快至1秒钟的分析,DelsaMax PRO同时精确完成粒度及Zeta电位的分析。 核心技术 惟一通过“并行测量”技术同步获得粒径与Zeta电位数据的分析仪。 惟一以“多角度测量”分析Zeta电位的技术(MP-PALS)。 独有的“DelsaMax ASSIST”(选配项)辅助处理系统...
NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用*设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm;)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。 NICOMP 380 Z...