zeta电位分析仪测粒径简介: Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有*技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、...
产品型号:Nicomp Z3000型 产品特点:纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000采用*设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm;)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 ...
Malvern公司的激光衍射粒度议MS-3000仪器可以进行智能化湿法进样平台转换,使用全程米氏理论。MS-3000用来测定分散在可以在0.01～3500微米范围内测量分散在液体介质中颗粒的粒度分析,对溶解于水的物质可选用有机分散剂分散。粒度- NIBS 技术可以对粒径范围0.3 纳米至 10 微米的颗粒和分子进行测量。Zeta 电位 - M3-...
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仪器型号:Zeta电位与粒径分析仪 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) 检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒...
AM标准粒子 可追溯符合国际标准 专用于粒度仪校准校验的 ￥2000.00 查看详情 Entegris APM即时高效的在线化学浓度检测系统件 ￥120.00万 查看详情 Entegris Aramus一次性2D含氟聚合物薄膜冻存袋组件 ￥1000.00 查看详情 LUM德国原装进口稳定性分析检测仪系列选材精良 ￥40.00万 查看详情 Entegris Online系列在线纳米粒...
制造商: Malvern Panalytical technologies zeta XRF AA ICP 价格说明 价格:商品在平台的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准。 特别提示:商品详情页中(含主图)以文字或者图片形式标注的...
Z3000 粒度及Zeta电位分析仪 Nicomp Z3000系列(Entegris) 查看详情 Nicomp Z3000 Basic(Entegris) 自带双列直插式钯电极 复合型算法:高斯(Gaussion)单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换; 相位分析法(PALS)和频谱分析法(FALS)自由切换 搭配不同功率光源; 精确度高,接近样品真实值; 快速检测,可以追溯历史数据; 符合USP...
型号 Mastersizer 3000 Hydro SV MV EV SM Aeris 英国Malvern Panalytical technologies已被众多行业和组织的科学家和工程师所采用,以解决与更大化生产率,开发更高质量的产品并使它们更快地投放市场有关的挑战。创建创新,以客户为导向的解决方案和服务,以通过材料的化学,物理和结构分析来提升效率并带来切实的经济影响...
Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。基于多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS)检测ZETA电位。其主要用于检测额纳米级别及亚微米级别的体系,粒径检测范围0.3nm-10μm,ZETA电位检测范围为+/-500mV。动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,关注...