简要描述:Nicomp Zeta粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用雪崩二极管(APD)检测器和大功率激光器,大功率激光器可以增加光强度,APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力。利用动态光散射理论,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。
Nicomp Z3000 zeta电位仪 核心参数 粒径范围10nm-10um测量分辨率10PPT 重复性99%分散方式湿法 产品特点 Nicomp380Z3000纳米粒径与电位分析仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用雪崩二极管(APD)检测器和大功率激光器,大功率激光器可以增加光强度,APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力。利...
产品型号:Nicomp Z3000型 产品特点:纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000采用*设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm;)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 ...
zeta电位分析仪测粒径简介: Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有*技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、...
NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm;)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380...
免费查询更多zetasiser 3000hs型纳米粒度及zeta电位分析仪详细参数、实时报价、行情走势、优质商品批发/供应信息等,您还可以发布询价信息。
Nicomp® 3000系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。基于多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,ELS)检测ZETA电位。其主要用于检测纳米级别及微米级别的体系,粒径检测范围0.3nm-10μm,ZETA电位检测范围为±500mV。动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,关注瑞利散...
简要描述:Nicomp Z3000激光粒度仪及ZETA电位分析仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用雪崩二极管(APD)检测器和大功率激光器,大功率激光器可以增加光强度,APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力。利用动态光散射理论,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。
NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用*设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm;)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。 NICOMP 380 Z...
Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。基于多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS)检测ZETA电位。其主要用于检测额纳米级别及亚微米级别的体系,粒径检测范围0.3nm-10μm,ZETA电位检测范围为+/-500mV。动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,关注...