nanoPartica SZ-100V2SZ-100V2纳米粒度分析仪先进的分析仪器助您解开纳米世界的奥秘。只需单台设备就能表征纳米颗粒的三个参数:粒径、Zeta 电位和分子量。纳米技术的研发是一个持续不断的过程,这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸,从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现...
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查看详情 澳谱特科技 粒度分布仪 ￥27.00万 获取底价 商品描述 价格说明 联系我们 品牌 澳谱特 测量范围 10µm – 30mm*N 测量时间 1~3分钟*s 电源 AC100V~240V,50/60Hz,最大功率120WV 工作环境 温度10℃~35℃,相对湿度35%~80%,无冷凝 功能 颗粒粒度、粒形测量 样品分散方式 自由落...
粒径分析仪确实可以测量zeta电位。粒径分析仪不仅能测量粒子的粒径和分布,还能通过特定的技术,如M3-PALS专利技术,来测量zeta电位。这种测量对于了解物质的表面电化学性质、粒子的稳定性和分散性都非常重要。所以说,如果您有这方面的需求,粒径分析仪是一个不错的选择。
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仪器型号:Zeta电位与粒径分析仪 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) 检测范围: 0.3nm-10.0μm Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒...
zeta电位分析仪测粒径简介: Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有*技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、...
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Zeta电位 Zeta电位分析仪 纳米颗粒和胶体悬浮液的稳定性通常取决于颗粒的表面电荷。在某些应用中,需要评估或监测悬浮条件(如 pH 值)对静电稳定性的影响。从废液中去除胶体颗粒时,确定凝结剂浓度对表面电荷的影响可以确定最佳剂量。无论哪种方式,zeta 电位分析都是一个有用的工具。
Zeta电位与粒径分析仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,同机采用多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测ZETA电位。