一、检测物质原子结构 EXAFS分析方法通过测量样品中X射线的吸收系数随能量变化的关系，可以得到样品中特定元素的吸收谱。这种谱图可以提供有关原子周围的电子密度分布和邻近原子配位信息。通过分析这些信息，可以精确地了解物质的原子结构，如分子间距离、配位数等。因此，EXAFS方法对于研究固体材料、催化剂、薄...
扩展X射线吸收谱精细结构分析方法，简称EXAFS，是一种强大的结构探测手段。它的应用广泛，特别是在研究表面、吸附物种以及局域结构时表现出色。即使在常规结构分析方法失效的复杂体系，如催化剂非晶材料、液态物质和金属酶，EXAFS仍能提供关键的结构参数。地质、材料、物理、化学和生物等领域的研究都得益于其独...
利用偏振X射线可以对有取向样品中原子键角进行测量，可测量表面结构。样品制备比较简单，不需要单晶。在实验条件具备的情况下，采集数据时间较短，用同步辐射X射线源，通常一条谱线只需几分钟时间。技术原理：在吸收限的高能一方，吸收系数随光子能量的增加而单调下降。但是假如用高分辨率谱仪作细致的观察，...
Absorption Fine Structure (EXAFS) Introduction 扩展X射线吸收谱精细结构(Extended X-ray absorption fine structure, EXAFS)是X射线吸收限高能侧30eV至约1000eV范围内吸收系数随入射X光子能量增加而起伏振荡的现象,近年来它被广泛应用于测定多原子气体和凝聚态物质吸收原子周围的局域结构,成为结构分析的一种新技术。
利用偏振X射线可以对有取向样品中原子键角进行测量，可测量表面结构。样品制备比较简单，不需要单晶。在实验条件具备的情况下，采集数据时间较短，用同步辐射X射线源，通常一条谱线只需几分钟时间。技术原理：在吸收限的高能一方，吸收系数随光子能量的增加而单调下降。但是假如用高分辨率谱仪作细致的观察，...