1、薄膜材料的X射线反射率测量介绍,杨宁 博士XRD应用工程师德国布鲁克AXS有限公司北京代表处北京海淀区中关村南大街11号光大国信大厦5201室,邮编:100081电话 68486947 服务热线:800-810-9066手机:真:mail: ning.yangbruker-,2,提纲,介绍 仪器硬件选择和测量配置 数据解析,3,什么是薄膜的反射率测量(XRR)?,对材料表面...
集团投资数亿配备了全球先进的检测仪器设备400多套,来自美国Agilent、德国Bruker、瑞士Metrohm等国的进口设备高达92%以上。组建了十几所自有实验室,占地面积8000㎡。服务涵盖了1000+细分领域。 查报告 数据精准可信 集团依托专业技术检测团队,先进的进口设备,大量的图谱数据库及严苛的专业实验室质控体系,并采用多种业务...
ppt课件.1 提纲 ＸＲＲ介绍仪器硬件选择和测量配置ＸＲＲ数据解析 ppt课件.2 什么是薄膜的反射率测量(XRR)?反射率测量（XRR）是利用X射线在物质中发生的折射和反射（表面，界面），以及反射线之间的互相干涉对薄膜的性质（密度，厚度，粗糙度）进行研究的一种方法 对材料表面非常敏感的技术 无损纳米尺度检测 晶体...
最近利用Bruker D8 DISCOVER X射线衍射仪测量了样品的XRR,有txt和raw两种格式,但是不会进行数据分析,也找不到分析软件Leptos。附件中附一组数据,求大家帮帮忙,能否分享一下分析软件和方法~非常感谢~QQ是806617479。 下载提醒:APP中打开可直接下载,点击下载 3.raw 3.txt 返回小木虫查看更多...
email:ning.yang@bruker-axs 2 提纲 •XRR介绍 •仪器硬件选择和测量配臵 •XRR数据解析 3 什么是薄膜的反射率测量(XRR)? •对材料表面非常敏感的技术 •无损 •纳米尺度检测 •晶体和非晶材料 •XRR可以提供哪些信息? •薄膜厚度0.1nm–1000nm •材料密度<1-2% •表面和界面粗糙度<3-5nm...
Bruker AXSesApplied Surface ScienceNovel methods and universal software for HRXRD, XRR and GISAXS data interpretation[J] . A. Ulyanenkov.Applied Surface Science . 2006 (1)A. Ulyanenkov.Novel methods and universal software for HRXRD, XRR and GISAXS data interpretation. Applied Surface Science . ...
薄膜材料的X射线反射率测量介绍 杨宁博士 XRD应用工程师 德国布鲁克AXS有限公司北京代 表处 北京海淀区中关村南大街11号 光大国信大厦5201室,邮编:100081 电话:***-***46,68486947 服务热线:800-810-9066 手机:***2478 传真:***-***7855 email:ning.yang@bruker- axs 2 提纲 • XRR介绍 • 仪器硬件选...
REFSIM Version 1.2, User’s Manual (Bruker AXS) ? High Resolution X-ray Scattering from Thin Films and Multilayers (V. Holy, U. Pietsch, T. Baumbach) Springer Tracts in Modern Physics Website of Interest http://cindy.lbl.gov/optical_constants ? X-ray specular reflectivity curves for ...
入射光路的光学器件选择-只有G;Slide 29;Slide 30;探测器端的分辨率选择Pathf;功能超级强大的探测器光路;不同硬件配置的仪器分辨率和最大;样品尺寸效应;Slide 35;Slide 36;Slide 37;Slide 38;LEPTOS 仪器分辨率计算和;拟合计算过程;Amorphous HfO2 ;XRR on MEMS – R;GMR Heterostruc;www.bruker-axs.;Slide ...
反射率测量XRR简介ppt课件 1 提 纲 ＸＲＲ介绍仪器硬件选择和测量配置 ＸＲＲ数据解析 2 什么是薄膜的反射率测量(XRR)?反射率测量（XRR）是利用X射线在物质中发生的折射和反射（表面，界面），以及反射线之间的互相干涉对薄膜的性质（密度，厚度，粗糙度）进行研究的一种方法 对材料表面非常敏感的...