常见的物理分析方法包括X射线荧光光谱(XRF)、等离子发射光谱(ICP)、原子吸收光谱(AAS)、原子荧光光谱法(AFS)和电子探针分析(EPMA)等。XRF分析测试技术已经在地质、冶金、电子机械、石油、航空航天材料、生物、生态环境、商检等领域有了广泛的应用,学子们也在越来越多的文章中看到XRF测试的身影。但是你对X射线荧光光谱...
XRD则适用于研究材料的晶体结构。质谱分析包括ICP-MS和TOF-SIMS，前者利用电感耦合等离子体作为离子源，提供低检出限、宽线性范围和快速分析速度，后者通过二次离子的飞行时间实现高分辨率测量，适合对样品进行静态分析。能谱分析涉及X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱AES，XPS提供物质表面几个原子层的元素定...
XRD、CV、XPS、FTIR、UV,Raman、TGA、DSC Origin数据分析大全 1.5万 1 17:22 App (二十一)快速理解X射线能谱EDS的测试 5141 1 01:38 App 电感耦合等离子体质谱ICP-MS测试过程 5117 0 04:02 App EDS知多少(六)解读不同特征X射线的峰型 7968 1 01:50 App 电感耦合等离子体发射光谱ICP-OES测试过程 5921 ...
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4. 能谱的双剑合璧: XPS和AES，分别通过X射线光电子能谱与俄歇电子能谱，深入表面和结构，为化学态和结构分析提供详尽的微区成像。5. 电镜下的微区分析: EDAX与电镜联合作战，实现微区定性定量的精准打击，无论是颗粒形貌还是成分结构，都无所遁形。6. 形态与结构的多重视角: 从SEM的宏观视野到TEM...
TXRF用于痕量分析可与中子活化分析(NAA)、AAS、ICP-AES、ICP-MS、火花源质谱(SSMS)等先进技术媲美,于表面分析可与二次离子质谱(SIMS)、X射线光电子谱(XPS)和卢瑟福反向散射光谱(RBS)等现代仪器争优。因此,TXRF分析被誉为目前国际上最具竞争力的分析工具,...
TXRF用于痕量分析可与中子活化分析(NAA)、AAS、ICP-AES、ICP-MS、火花源质谱(SSMS)等先进技术媲美,于表面分析可与二次离子质谱(SIMS)、X射线光电子谱(XPS)和卢瑟福反向散射光谱(RBS)等现代仪器争优。因此,TXRF分析被誉为目前国际上最具竞争力的分析工具,具有美好的开发和应用前景。
1、X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS);(10纳米,表面); 2、俄歇电子能谱(Auger electron spectroscopy,AES);(6nm,表面); 3、二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS);(微米,表面) 4、电子探针分析方法;(0.5微米,体相) ...
ICP-AES用于测定溶液中金属元素含量,XRF用于测定固体中金属氧化物化合物含量。XPS用于测定固体表面的元素含量与价态变化,EA用于测定固体中C/O/N/P/S的含量 jacklee2011 2楼: Originally posted by liwentao2010 at 2014-11-30 22:39:43 ICP-AES用于测定溶液中金属元素含量,XRF用于测定固体中金属氧化物化合物含...