整体来说,ICP-OES和ICP-MS可分析的元素基本一致,不过由于分析检测系统的差异,两者的检测限有差异:ICP-MS的检测限很低,最好的可以达到ng/L(ppt)的水平;而ICP-AES一般是ug/L(ppb)的级别。不过ICP-MS只能分析固体溶解量为0.2%左右的溶液(因此经常需要稀释),而ICP-AES则可以分析固体溶解量超过20%的溶液。 3 ...
对于多数元素,其检出限一般为0.1～100ng/ml,可以同时测试多种元素,灵敏度高,检测限低,测试范围宽(低含量成分和高含量成分能够同时测试)。 ICP-OES其前身为ICP-AES(电感耦合等离子体原子发射谱仪),它基于物质在高频电磁场所形成的高温等离子体中有良好的特征谱线发射,再以半导体检测器检测这些光谱能量,参照同时测定...
ICP—OES可同时分析常量和痕量组分,无需繁复的双向观测,还能同时读出、无任何谱线缺失的全谱、直读等离子体发射光谱仪,具有检出限极低、重现性好,分析元素多等显著特点,ICP-OES大部份元素的检出限为1～10ppb,一些元素也可得到亚ppb级的检出限。ICP-OES的检测元素如下图: ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪以质谱仪作为...
在ROHS检测中,ICP光谱仪和XRF检测仪是两种常用的检测方法,它们各自具有独特的特点和应用场景。 ICP光谱仪检测 原理:电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)或电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)是通过将样品溶液引入高温、高电离度的ICP炬焰中,使样品完全汽化、原子化、激发和电离,进而通过质谱或光谱分析来确定元素的种类和...
根据检测器的不同分为ICP—OES(电感耦合等离子发射光谱仪,也称ICP-AES)和ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)。两者均能测元素周期表中的绝大部分元素,但能测得元素稍微有异,检测能力上后者要比前者高。因为ICP光源具有良好的原子化、激发和电离能力,所以它具有很好的检出限。对于多数元素,其检出限一般为0.1～100ng/ml...
ICP—OES可同时分析常量和痕量组分,无需繁复的双向观测,还能同时读出、无任何谱线缺失的全谱、直读等离子体发射光谱仪,具有检出限极低、重现性好,分析元素多等显著特点,ICP-OES大部份元素的检出限为1～10ppb,一些元素也可得到亚ppb级的检出限。 ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪以质谱仪作为检测器,通过将样品转化为运...
整体来说,ICP-OES和ICP-MS可分析的元素基本一致,不过由于分析检测系统的差异,两者的检测限有差异:ICP-MS的检测限很低,最好的可以达到ng/L(ppt)的水平;而ICP-AES一般是ug/L(ppb)的级别。不过ICP-MS只能分析固体溶解量为0.2%左右的溶液(因此经常需要稀释),而ICP-AES则可以分析固体溶解量超过20%的溶液。
光谱分析包括原子吸收光谱AAS、电感耦合等离子体原子发射光谱ICP-OES、X射线荧光光谱XFS和X射线衍射光谱分析法XRD。原子吸收光谱基于原子的基态对其特征性辐射的吸收强度，适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低，测量准确度高，选择性好，分析元素范围广。ICP-AES方法利用电感耦合等离子体作为...
ICP-OES属于定量分析仪器,测试结果准确性高,其检出限较低,可以达到1ppm;而XRF属于半定量仪器,测试结果准确性较差,其检查限较高,一般含量需要0.1%以上的才能检测的出。 XRF:样品基本不用前处理;ICP:样品需要消解为溶液。 XRF:检出限较高,百分含量级别;ICP:检出限低,部分元素PPB。
ICP-OES:是原子发射光谱的一种,原名ICP-AES后改名为ICP-OES; ICP-MS: 无机质谱(MS),用于分析元素价态及含量,也用于同位素分析;FAAS、GAAS和 HGAAS(HAAS):火焰原子吸收、石墨炉原子吸收和氢化物原子吸收,都属于原子吸收一类。各种元素分析仪器分析过程、特点及应用 ...