但是发现有些地方无法理解：首先是测试中的倾斜角ψ角如何确定；其次就是如何通过得到的phi扫描曲线来分析...
如何计算phi scan的phi 角度和2theta角度？以简单的cubic， SrTiO3为例， a=b=c=3.905, 90 degree...
然后样品围绕着平行于样品表面的一根轴(此轴也垂直于由入 射光和探测器两相交直线构成的平面)来回转动,用来描述某一特定晶面在样品中角发散大 小的测试方法;φ 扫描,即 phi-scan,是样品先倾斜一个角度(要扫的面和生长面的夹角) 再自身旋转 360 度,一般用来分析样品面内排布(对称性,有无孪晶等)。 XRD 实验...
然后样品围绕着平行于样品表面的一根轴(此轴也垂直于由入 射光和探测器两相交直线构成的平面)来回转动,用来描述某一特定晶面在样品中角发散大 小的测试方法;φ 扫描,即 phi-scan,是样品先倾斜一个角度(要扫的面和生长面的夹角) 再自身旋转 360 度,一般用来分析样品面内排布(对称性,有无孪晶等)。 XRD 实验...
3. 外延关系判定(Phi-scan) 4. 反射率(XRR) 5. 掠入射表面深度分析(GIXRD) 6. 透射X射线衍射 7. 残余应力(Residual stress) 8. 织构分析(texture) 9. 粉末和块材物相鉴定(Phase analysis) 10. 小角X射线衍射(Small angle XRD) 涉及样品种类包括(不限于)半导体晶圆、单晶、薄膜、药品、金属、纳米材料、...
HRXRD测量及分析方法 X射线衍射仪 XRD图解 扫描模式 Omega-scan Omega-2theta scan Phi-scan Chi-scan Rocking Curve Scan (ω扫描) θ-2θ扫描,也叫联动,就是样品和探测器都在转动,从衍射峰位可以确定样品的晶格常数,从而确定外延膜样品晶格的应变。这时,探测器前一般要狭缝。衍射峰的半高宽与薄膜的厚度、...
然后样品围绕着平行于样品表面的一根轴(此轴也垂直于由入射光和探测器两相交直线构成的平面)来回转动,用来描述某一特定晶面在样品中角发散大小的测试方法;φ扫描,即phi-scan,是样品先倾斜一个角度(要扫的面和生长面的夹角)再自身旋转360度,一般用来分析样品面内排布(对称性,有无孪晶等)。 XRD实验样品如何制作?
e)在获得的峰位反复做Rocking, 2theta, chi, phi scan以优化 5、在未知情况下寻找NiBi3峰 a)狭缝保持High Flux设置 b)选择一个NiBi3强，且无Ni，无Bi，无衬底的2theta位置，注意是否有2theta offset c)固定该2theta，Chi=5 degree, Phi scan 0~180degree, 0.5 degree step d)Chi+2.5degree, Phi ...
HRXRD基本光路图 XRD图解 扫描模式 Omega-scanOmega-2thetascanPhi-scanChi-scan RockingCurveScan(ω扫描)ω扫描，也称摇摆，就是探测器固定在2θ位置，样品在θ左右摇摆，这时候探测器前面不加狭缝，处于开口状态。Omega-2theta(θ-2θ)扫描 θ-2θ扫描，也叫联动，就是样品和探测器都在...
figure测试的原理，与theta-2theta对照进行分析；据我所知，phi-scan表征面内织构；omega-scan表征面外...