测试摇摆曲线(Rocking Curve,有时缩写为RC)的时候,保持样品不动,探测器位置保持不变,同时样品法线方向与探测器表面法线方向之间的夹角也保持不变,然后在一定范围内改变X射线的入射角(X射线与样品样品表面的夹角ω),探测器检测不同ω下,待测晶面的X射线衍射强度。ω变化范围的中心是待测晶面发生布拉格衍射时对应的...
测试摇摆曲线(Rocking Curve,有时缩写为RC)的时候,保持样品不动,探测器位置保持不变,同时样品法线方向与探测器表面法线方向之间的夹角也保持不变,然后在一定范围内改变X射线的入射角(X射线与样品样品表面的夹角ω),探测器检测不同ω下,待测晶面的X射线衍射强度。ω变化范围的中心是待测晶面发生布拉格衍射时对应的...
另一种重要的测量方法是摇摆曲线（Rocking curve），也就是w扫描（ω scan）。其曲线呈现单钟形，而其半峰宽（FWHM）值是反映外延生长单晶薄膜结晶质量的关键指标，包括位错或缺陷密度、薄膜的弯曲度、结晶的完整性以及择优取向性等。此外，极图（Pole figure）测量也是一种常用的技术。极图以圆形呈现，通常在极坐标...
可使InN薄膜縱向相干長度增加,應變減少.基板/緩衝層以及離子掺雜均會對InN之薄膜結構造成影響;應變中以矽基板最大;而以Sapphire/GaN/In0.3Ga0.7N最小;離子掺雜則使InN薄膜縱向相干長度減少,適當退火處理參數可以使調整InN縱向相干長度與應變,樣品B(Sapphire/GaN/In0.9Ga0.1N)之ω-2θ所得FWHM為所有樣品中最小,...
FWHM of X-ray rocking curve was adapted to characterize the surface damage. 采用X射线摇摆曲线的半峰宽表征了表面损伤程度。 3) X-ray diffraction analysis X射线衍射分析 1. Change of macroscopic stress in ZnSe devices during the processing was determined by X-ray diffraction analysis. 用X射线...
aX-ray diffraction (XRD) indicates the dependence of the crystallinity of crystal to the growth conditions with the best rocking curve as narrow as 15.8 arcsec full width at half-maximum (FWHM). X-射线衍射 (XRD) 作为表明水晶结晶性的依赖性到成长条件与最佳的晃动的曲线狭窄象15.8弧秒全宽在一半...
应力等作用的影响。通俗点讲就是薄膜某一晶面长得好不好。从rocking curve里可以得出FWHM，此值越小...
Abstract : Smal l er FWHM of (102) rocki ng curve t han (002) i s observed i n t he doubl e crystal XRD st udy of GaN f il ms and peak spli tti ng i s observed i n ZnO (002) rocki ng curves. By cal cul ati ng t he Kα12Kα2 separation and compari ng i t wi ...
◦Individual FWHM profile shape fitting for turbostatic effects. ◦Lattice/crystal structure parameters ◦Selective use of phases in refinement (phases included or excluded from refinements) 关于training plan,这个参考下? Training for use of X-ray diffraction facilities have a few levels. ...
<110>孪晶畴,此时,不同晶畴的a和b方向的相互重合,整个膜面的应力水平得到很大 的降低,即是如此,孪晶畴也存在较多的缺陷(FWHM1.3。)。如图5所示,转变后, 孪晶畴界<110>仍维持方向不变,即与LAO<110>方向一致,由于正交相的a和b的尺寸 差异,畴界两侧的晶粒的a和b方向将分别产生角度差6,这是由于正交相的a...