简述如何通过X射线衍射(XRD)分析钙钛矿薄膜的晶体结构。相关知识点: 试题来源: 解析 答案:通过X射线衍射分析钙钛矿薄膜的晶体结构,首先将钙钛矿薄膜置于XRD仪器中,然后使用X射线照射薄膜,根据衍射峰的位置、强度和宽度等信息,可以分析出钙钛矿薄膜的晶体结构和晶格参数。
X光绕射分析(X-ray diffraction analysis, XRD) 是透过X光与晶体的绕射产生图谱,并从图谱数据库比对,即可推论出材料晶体的排列结构、晶体排列的方式和奈米晶粒大小,以及单晶、多晶薄膜材料的结晶性分析等,为评估材料特性的一种非破坏式分析仪器。 先进工艺新材料特性 就靠它来验 如何不破坏样品,分析晶体结构与薄膜...
所谓XRD是用绕射原理得到绕射图谱,并从图谱数据库比对,即可推论晶体排列结构;而XRR(薄膜X光反射)则是XRD的反射图谱,藉此可以进一步得到 薄膜厚度(达0.1nm厚度的精准度);样品表面、层与层的接口粗糙度;薄膜的电子密度;甚至可以进行多层膜分析(总厚度限制在500nm以下),为非破坏分析薄膜材料特性的绝佳工具。 图谱数据库...
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