般常用的元素分析方法有三种:能谱仪EDS,X射线光电子能谱仪XPS,X射线荧光光电子能谱仪XRF,下面跟科学指南针一起看看他们的各个特点。 01 能谱仪(EDS) 能谱仪:EDS(Energy Dispersive Spectrometer)是电子显微镜(扫描电镜、透射电镜)的重要附属配套仪器,结合电子显微镜,能够在1-3分钟之内对材料的微观区域的元素分布进...
简而言之，XPS是用X射线打出电子，检测的是电子；EDS则是用电子打出X射线，检测的是X射线。楼上原理...
无论是XPS还是EDS,都能帮助我们了解样品中的元素组成和含量。🔬 不同点: 基本原理:XPS利用X射线激发出电子,检测的是这些电子;而EDS则是用电子撞击样品,产生X射线,检测的是这些X射线。 灵敏度和信息获取:EDS只能检测元素的组成和含量,不能测定元素的价态,且检测限较高(含量>2%),灵敏度较低。而XPS不仅可以测...
XPS(X射线光电子能谱)和EDS(能量色散谱)都是用于表面元素分析的技术。EDS的测试深度较大,约几个微米,但精度较低,不适合进行元素形态分析。XPS则主要用于固体样品表面的化学成分定性、半定量分析,以及元素化合价和深度剖析。EDS主要用于元素定性、定量分析,以及元素的线分布和面分布,但分辨率较低。XPS需要真空环境,较...
(1)EDS与 XPS的相同点:两者均可以用于元素的定性和定量检测。 (2)EDS与XPS的不同点: D基本原理不一样:简单来说,XPS 是用X 射线打出电子,检测的是电子;EDS 则是用电子打出X射线,检测的是X射线。XPS 分析的是表面1~10nm 深度的信息,EDS 分析的是体相微米级别的信息。 EDS 只能检测元素的组...
XPS的灵敏度更高,最低检测浓度>0.1%。 3)用法不一样:EDS常与SEM,TEM联用,可以对样品进行点扫,线扫,面扫等,能够比较方便地知道样品的表面(和SEM联用)或者体相(和TEM联用)的元素分布情况;而XPS则一般独立使用,对样品表面信息进行检测,可以判定元素的组成,化学态,分子结构信息等。
主要有:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、紫外光电子能谱(UPS),能谱仪-电镜联用等方法。 仪器厂家 1 俄歇电子能谱法(AES) 俄歇电子能谱法是用具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应,通过检测俄歇电子的能量和强度,从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。利用受激原子...
X射线光电子能谱(XPS-EDS) 厂家: Ulvac-PhI 型号:PHI 5000 VersarProbe II 技术指标 发射源:Al/Mg双阳极 较小分辨率:0.48 eV 取样深度:3nm 较大真空压力:主分析室6.7×10-8Pa或更小 主要功能 X射线光电子能谱仪主要用于元素的定性分析,固体材料表面组成分析,材料化学状态分析,元素成分的深度分析 样品的原位...
内容提示: 关于XPS 和 EDS 的区别 作者 nanowang 提交日期 2005-12-14 10:41:00 这两种都是比较经典的材料分析手段 看到 BBs 上一些不是特别清楚 试着写点 转贴此处 备份。 0) XPS 的物理原理是光电效应 EDS 的物理原理可称为电光效应 广义上说 二者是逆过 程 1 XPS 的入射源是 X 射线 其对样品的...
在材料科学中,XPS主要用于研究材料表面的化学组成和电子状态,如金属材料、半导体材料、聚合物材料等。 综上所述,SEM、EDS和XPS在材料科学中各自扮演着重要的角色。SEM主要用于观察样品的微观形貌和结构;EDS用于分析样品的元素组成和分布;而XPS则用于研究材料表面的化学组成和电子...