X光电子能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示: hn=Ek+Eb+Er (1) 其中:hn:X光子的能量;Ek:光电子的能量;Eb:电子的结合能;Er:原子的反冲能量。其中Er很小,可以忽略。 对于固体样品,计算结合能的参考点不...
此后通过电子能量分析器对光电子的动能进行分辨,再通过电子探测器对电子进行计数。最后到达数据系统进行分析,就可以呈现出最终的X射线光电子能谱。 图9 光电子能谱仪的原理示意图 小结 X射线光电子能谱已经成为分析表征领域的重要手段之一,在科研、教学等领域已经产出丰富有价值的成果,X射线光电子能谱仪自出生以后也...
(补充)俄歇电子能谱 (AES) 答:原理:电子束(或X射线)激发试样表面原子的壳层电子,较外层电子跃迁填充较内层电子空位,多余的能量发射一个具有特征能量的俄歇电子,通过检测俄歇电子的能量和强度,进行样品表层化学成分的定性和定量分析。主要用于微区(~50 nm)表面化学成分分析。逸出的俄歇电子来源于表面~1 nm的深度范围...
一、X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示: hn=Ek+Eb+Er (1) 其中:hn:X光子的能量;Ek:光电子的能量;Eb:...
XPS是重要的表面分析技术之一,是由瑞典Kai M.Siegbahn教授领导的研究小组创立的,并于1954年研制出世界上第一台光电子能谱仪,1981年,研制出高分辨率电子能谱仪。他在1981年获得了诺贝尔物理学奖。 Kai M.Siegbahn 基本原理及特点 (1)固体表面的激发与检测 X射线光电子能谱(XPS):激发源为X射线,用X射线作用于样...
(一)X光电子能谱分析的基本原理 : X光电子能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示: hn=Ek+Eb+Er 其中: hn:X光子的能量; Ek:光电子的能量;Eb:电子的结合能;Er:原子的反冲能量。其中Er很小,可以忽略。
1 原理XPS是利用 X 射线辐射样品，使得样品的原子或分子的内层电子或者价电子受到激发而成为光电子，通过测量光电子的信号来表征样品表面的化学组成、元素的结合能以及价态。X 射线光电子能谱技术作为一种高灵敏超微量的表面分析技术，对所有元素的灵敏度具有相同的数量级，能够观测化学位移，能够对固体样品的元素成分...
XPS,全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X 射线光电子能谱),是一种使用电子谱仪测量X - 射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。通过收集在入射X 光作用下,从材料表面激发的电子能量、角度、强度等信息对材料表面进行定性、定量和结构鉴定的表面分析方法。一般以Al、Mg 作为X 射线的...
XPS的基本原理 •XPS的原理是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子。可以测量光电子的能量。•X射线光子的能量在1000--1500ev之间，不仅可使分子的价电子电离而且也可以把内层电子激发出来，内层电子的能级受分子环境的影响很小。同一原子的内层电子结合...