X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）XPS主要应用是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析，其特点在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料...
XPS（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA,是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。基本原理——光电离作用：当一束光子辐照到样品表面时，光子可以被样品中某一元素的原子轨道上的电子所吸收，使得该电子脱离原子核的束缚，以一定的动能从原子内部发射出来，变...
XPS表征手册一般采用:Chastain, Jill, andRoger C. King, eds. Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy: a reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data. Eden Prairie, MN: Physical Electronics, 1995. XPS数据库一般采用NIST XPS database: 1)http://srdata.ni...
XPS,全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X 射线光电子能谱),是一种使用电子谱仪测量X - 射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。通过收集在入射X 光作用下,从材料表面激发的电子能量、角度、强度等信息对材料表面进行定性、定量和结构鉴定的表面分析方法。一般以Al、Mg 作为X 射线的...
X-射线光电子谱仪(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称为XPS),经常又被称为化学分析用电子谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis,简称为ESCA),是一种最主要的表面分析工具。 XPS作为当代谱学领域中最活跃的分支之一,它除了可以根据测得的电子结合能确定样品的化学成份外,XPS最重要的应用在于确定元素的化合...
XPS谱图分析——俄歇线 俄歇(Auger)线有两个特征: 1.Auger与X-ray源无关,改变X-ray,Auger不变。 2.Auger是以谱线群的形式出现的。 在XPS中,可以观察到KLL、LMM、MNN和NOO四个系列的Auger线。 KLL:左边代表起始空穴的电子层,中间代表填补起始空穴的电...
特点:通过XPS可获得丰富的化学信息,对样品损伤轻,微定量精度较好。缺点是X-ray照射面积较大,不适于做微区分析;一般检测极限(灵敏度)大约为0.1%,且一般用能量较低的软X射线(如Al和Mg的Kα线),穿透深度很浅,故是一种表面分析方法。定性分析:不同元素、不同价态的电子结合能有其固定值,根据所测得的谱峰(...
XPS谱图分析——俄歇线 俄歇(Auger)线有两个特征: 1.Auger与X-ray源无关,改变X-ray,Auger不变。 2.Auger是以谱线群的形式出现的。 在XPS中,可以观察到KLL、LMM、MNN和NOO四个系列的Auger线。 KLL:左边代表起始空穴的电子层,中间代表填补起始空穴的电子所属的电子层,右边代表发射俄歇电子的电子层。
X射线光电子能谱学(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,简称XPS)是一种用于测定材料中元素构成、实验式,以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料,同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量,从而得到X射线光电子能谱。X射线光电子能谱技术需要在超...